Zum Inhalt springen Greiser, Jens [VerfasserIn] Anwendung der orientierungsabbildenden Mikroskopie auf die Mikrostrukturentwicklung in dünnen Schichten Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Stuttgart: Max-Planck-Inst. f. Metallforschung, 1999 Erschienen in: Max-Planck-Institut für Metallforschung: Bericht ; 83
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> Verfügbarkeit Skip to next facet Freihand verfügbar (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Standort Skip to next facet Bereichsbibliothek DrePunct (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Fachgebiet Skip to next facet Physik (1) Wert ausschließen Technik (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Person/Institution Skip to next facet Greiser, Jens (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen