Zum Inhalt springen

  1. Deng, Der-Jiunn [Herausgeber:in]; Chao, Han-Chieh [Herausgeber:in]; Chen, Jyh-Cheng [Herausgeber:in]

    Smart Grid and Internet of Things : 6th EAI International Conference, SGIoT 2022, TaiChung, Taiwan, November 19-20, 2022, Proceedings - [1st ed. 2023.]

    Bücher
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Cham: Springer Nature Switzerland, 2023. ; Cham: Imprint: Springer, 2023.

    Erschienen in: Lecture Notes of the Institute for Computer Sciences, Social Informatics and Telecommunications Engineering ; 497

  2. Lin, Yi-Bing [Herausgeber:in]; Deng, Der-Jiunn [Herausgeber:in]; Yang, Chao-Tung [Herausgeber:in]

    Smart Grid and Internet of Things : 5th EAI International Conference, SGIoT 2021, Virtual Event, December 18-19, 2021, Proceedings - [1st ed. 2022.]

    Bücher
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Cham: Springer Nature Switzerland, 2022. ; Cham: Imprint: Springer, 2022.

    Erschienen in: Lecture Notes of the Institute for Computer Sciences, Social Informatics and Telecommunications Engineering ; 447

  3. Lin, Chun-Cheng; Deng, Der-Jiunn; Jhong, Shun-Yu

    A Triangular NodeTrix Visualization Interface for Overlapping Social Community Structures of Cyber-Physical-Social Systems in Smart Factories

    Aufsätze
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2020

    Erschienen in: IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing, 8 (2020) 1, Seite 58-68

  4. Yang, Hang; Deng, Der-Jiunn; Chen, Kwang-Cheng

    On Energy Saving in IEEE 802.11ax

    Aufsätze
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2018

    Erschienen in: IEEE Access, 6 (2018), Seite 47546-47556