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Thaele, Rolf [Verfasser:in]

Entwicklung und systemanalytische Untersuchung eines Laser-Scan-Mikroskops mit integriert-optischer Einseitenbanddetektion - [Als Ms. gedr.]

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Düsseldorf: VDI-Verl., 1991

Erschienen in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschritt-Berichte VDI ; 23200

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