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Agar, Alan W. [VerfasserIn]; Alderson, Ronald H. [VerfasserIn]; Chescoe, Dawn [VerfasserIn]

Principles and practice of electron microscope operation - [Laboratory ed.]

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Amsterdam [u.a.]: North-Holland-Publ. [u. a.], 1974

Erschienen in: Practical methods in electron microscopy ; 200
Nestler, Carl-Georg [VerfasserIn]

Einführung in die Elektronenmetallographie : Eisen und Stahl - [2., unveränd. Aufl.]

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Leipzig: Dt. Verl. f. Grundstoffindustrie, 1961
Nestler, Carl-Georg [VerfasserIn]

Einführung in die Elektronenmetallographie

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Leipzig: Dt. Verl. f. Grundstoffindustrie, 1960
Jacob, Louis [VerfasserIn]

An introduction to electron optics

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London: Methuen, 1951 ; New York: Wiley, 1951

Erschienen in: Methuen's monographs on physical subjects
Picht, Johannes [VerfasserIn]; Heydenreich, Johannes [VerfasserIn]

Einführung in die Elektronenmikroskopie

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Berlin: VEB Verlag Technik, 1966
Eckert, Richard [VerfasserIn]

Sehen heißt wissen : das Rasterelektronenmikroskop im Fehleranalyselabor - [1. Aufl.]

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Stuttgart: Kurz, 1998
Reimer, Ludwig [VerfasserIn]

Transmission electron microscopy : physics of image formation and microanalysis - [3. ed.]

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1993

Erschienen in: Springer series in optical sciences ; 36.1993
Dubbeldam, Luc [VerfasserIn]

A voltage contrast detector with double channel energy analyzer in a scanning electron microscope

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Delft: Delftse Univ. Pers, 1989
Plattner, Helmut [VerfasserIn]

Biologische Ultrastrukturforschung : Wege, Ziele und Grenzen

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Konstanz: Universitätsverlag, 1981

Erschienen in: Konstanzer Universitätsreden ; 84
Tonomura, Akira [VerfasserIn]

Electron holography - [2., enl. ed.]

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1999

Erschienen in: Springer series in optical sciences ; 70.1999
Tonomura, Akira [VerfasserIn]

Electron holography - [Corr. 2. print.]

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Berlin; Heidelberg; New York; London; Paris; Tokyo; Hong Kong; Barcelona; Budapest: Springer, 1994

Erschienen in: Springer series in optical sciences ; 70,2
Scheler, Gerhard [VerfasserIn]

Bestimmung der spezifischen Ladung des Elektrons nach Hans Busch : mit diesem Experiment wurden im Jenaer Physikalischen Institut die Grundlagen zur Elektronenoptik gelegt

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2013

Erschienen in: Jenaer Jahrbuch zur Technik- und Industriegeschichte ; 16(2013), Seite 293-310
Qing, Lin [VerfasserIn]

Zur Frühgeschichte des Elektronenmikroskops

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Stuttgart: Verl. für Geschichte der Naturwiss. und der Technik, 1995
Bigelow, Wilbur C. [VerfasserIn]

Vacuum methods in electron microscopy

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London [u.a.]: Portland Press, 1994

Erschienen in: Practical methods in electron microscopy ; 1500
Hillebrand, Reinald [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Bethge, Heinz [GefeierteR]

Bildinterpretation in der Hochauflösungs-Elektronenmikroskopie : numerische und optische Verfahren zur Interpretation elektronenmikroskopischer Hochauflösungsabbildungen kristalliner Objekte

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Berlin: Akad.-Verl., 1984

Erschienen in: Beiträge zur Forschungstechnologie ; 11
Kohl, Helmut [VerfasserIn]

Theorie der Abbildung mit unelastisch gestreuten Elektronen in der hochaufloesenden Elektronenmikroskopie

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1983
Agar, Alan W. [VerfasserIn]; Alderson, Ronald H. [VerfasserIn]; Chescoe, Dawn [VerfasserIn]

Principles and practice of electron microscope operation

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Amsterdam [u.a.]: North-Holland Publ. [u.a.], 1974

Erschienen in: Practical methods in electron microscopy ; 200
Oster, Marco [VerfasserIn] ; Kowalsky, Wolfgang [AkademischeR BetreuerIn]; Schröder, Rasmus R. [AkademischeR BetreuerIn] Technische Universität Braunschweig, Eric Cuvillier Firma

Automated phase plate application in transmission electron microscopy - [1. Auflage]

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Göttingen: Cuvillier Verlag, 2017
Pennycook, Stephen J. [HerausgeberIn]; Nellist, Peter D. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Scanning transmission electron microscopy : imaging and analysis

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New York, NY; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2011
Hornbogen, Erhard [VerfasserIn]; Skrotzki, Birgit [VerfasserIn]

Werkstoff-Mikroskopie : direkte Durchstrahlung mit Elektronen zur Analyse der Mikrostruktur - [2. überarb. und erw. Neuaufl.]

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1993

Erschienen in: Werkstoff-Forschung und -Technik ; 11

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