TY - BOOK
AU - Rzepka, Sven
TI - FEM für die Mikroelektronik Erfordernis, Theorie und Anwendung der finiten Element Methode bei der Belastungs-, Schwachstellen- und Ausfallanalyse mikroelektronischer Aufbauten
KW - Hochschulschrift
KW - Mikroelektronik
KW - Finite-Elemente-Methode
PY - 2003
UR - http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER -
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