TY - GEN

AU - Automated Visual Inspection and Machine Vision Veranstaltung 2023 München

AU - SPIE

AU - Beyerer, Jürgen

AU - Heizmann, Michael

TI - Automated Visual Inspection and Machine Vision V 28 June 2023, Munich, Germany

PB - SPIE

SN - 9781510664562

KW - Konferenzschrift

PY - [2023]

N2 - Teilkonferenz von SPIE Optical Metrology 2023

N2 - Enthält teilweise Vorträge in Form von Videos (Präsentationsfolien), teilweise ausgearbeitete Vorträge

N2 - Literaturangaben

BT - Proceedings of SPIE ; volume 12623

CY - Bellingham, Washington, USA

UR - http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2

ER -