TY -
BOOK
AU - Eckert, Richard
TI -
Sehen heißt wissen
das Rasterelektronenmikroskop im Fehleranalyselabor
ET - 1. Aufl.
PB - Kurz
PB - : Kurz
SN - 3893010815
KW - Scanning electron microscopy
KW - Rasterelektronenmikroskop
PY - 1998
PY - , 1998
N2 - Literaturangaben
CY - Stuttgart
CY - ; Stuttgart
UR - http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER -