TY - GEN
AU - Institute of Electrical and Electronics Engineers
AU - IEEE Computer Society
TI - 2013 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) 2 - 4 Oct. 2013, New York City, NY
PB - IEEE
SN - 9781479915859
SN - 1479915831
SN - 147991584X
SN - 9781479915835
SN - 9781479915842
KW - Integrated circuits Fault tolerance Congresses
KW - Integrated circuits Very large scale integration Congresses
KW - Nanotechnology Congresses
KW - Konferenzschrift
KW - VLSI
KW - Fehlertoleranz
PY - 2013
N2 - Literaturangaben
N2 - Auf der Homepage als "16th IEEE Symposium ..." gezählt, insgesamt jedoch die 26. Tagung in dieser Konferenzfolge (1998 Namensänderung von "Workshop" zu "Symposium")
CY - Piscataway, NJ
UR - http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER -
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