TY
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GEN
AU
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Duganapalli, Kishore
AU
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Universität Bremen
TI
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Modelling and Test Generation for Crosstalk Faults in DSM Chips
KW
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Hochschulschrift
PY
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2016
CY
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Bremen
UR
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http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER
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