TY - GEN
AU - Peschka, Dirk
TI - Variational approach to contact line dynamics for thin films
ET - published Version
PB - Weierstraß-Institut für Angewandte Analysis und Stochastik
SN - 2198-5855
KW - thin-film model
KW - Contact lines
KW - gradient flow
PY - 2018
N2 - Diese Datenquelle enthält auch Bestandsnachweise, die nicht zu einem Volltext führen.
BT - Preprint / Weierstraß-Institut für Angewandte Analysis und Stochastik , Volume 2477, ISSN 2198-5855
CY - Berlin
UR - http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER -
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