TY - GEN
AU - Aussen, Stephan
AU - Cüppers, Felix
AU - Hoffmann-Eifert, Susanne
AU - Funck, Carsten
AU - Jo, Janghyun
AU - Werner, Stephan
AU - Pratsch, Christoph
AU - Menzel, Stephan
AU - Dittmann, Regina
AU - Dunin-Borkowski, Rafal
AU - Waser, Rainer
TI - Correlation between Electronic Structure, Microstructure, and Switching Mode in Valence Change Mechanism Al 2 O 3 /TiO x ‐Based Memristive Devices
PB - Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KG
SN - 2199-160X
PY - 2023
N2 - Diese Datenquelle enthält auch Bestandsnachweise, die nicht zu einem Volltext führen.
BT - Advanced electronic materials 9(12), 2300520 (2023). doi:10.1002/aelm.202300520
UR - http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER -
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