TY - GEN
AU - Klein, Konrad
AU - Hauer, Benedikt
AU - Brandt, Martin S.
AU - Stoib, Benedikt
AU - Trautwein, Markus
AU - Matich, Sonja
AU - Huebl, Hans
AU - Astakhov, Oleksandr
AU - Finger, Friedhelm
AU - Bittl, Robert
AU - Stutzmann, Martin
TI - The electrically detected magnetic resonance microscope: Combining conductive atomic force microscopy with electrically detected magnetic resonance
PB - American Institute of Physics
SN - 1089-7623
SN - 0034-6748
PY - 2013
N2 - Diese Datenquelle enthält auch Bestandsnachweise, die nicht zu einem Volltext führen.
BT - Review of scientific instruments 84(10), 103911 - (2013). doi:10.1063/1.4827036
UR - http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER -
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