TY -
GEN
AU - Duganapalli, Kishore
AU - Anheier, Walter
AU - Anheier, Walter
AU - Fey, Görschwin
TI -
Modelling and Test Generation for Crosstalk Faults in DSM Chips
PB - Staats- und Universitätsbibliothek Bremen
KW - Crosstalk, Test Pattern Generation, Signal Integrity, PODEM, Genetic Algorithm
KW - Hochschulschrift
PY - 2016
CY - Bremen
UR - http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER -