TY - GEN
AU - Borghello, G.
AU - Bergamin, G.
AU - Ceresa, D.
AU - Pejašinović, R.
AU - Diaz, F.P.
AU - Kloukinas, K.
AU - Pulli, A.
AU - Ripamonti, G.
AU - Caratelli, A.
AU - Andorno, M.
TI - Total ionizing dose effects on ring-oscillators and SRAMs in a commercial 28 nm CMOS technology
PB - IOP Publishing
SN - 1748-0221
KW - Mathematical Physics
KW - Instrumentation
PY - 2023
UR - http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER -
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