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  1. Fleck, Roland A. [HerausgeberIn]; Humbel, Bruno M. [HerausgeberIn]

    Biological field emission scanning electron microscopy

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    Hoboken, NJ: Wiley, [2019]

    Erschienen in: Royal Microscopical Society - John Wiley series

  2. Bhushan, Bharat [HerausgeberIn]

    Applied scanning probe methods

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    Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2004-2009

    Erschienen in: NanoScience and technology

  3. Wiesendanger, Roland [HerausgeberIn]

    Scanning probe microscopy : analytical methods

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    Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1998

    Erschienen in: NanoScience and technology

  4. Güntherodt, Hans-Joachim [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Advanced Study Institute on Forces in Scanning Probe Methods 1994 Schluchsee

    Forces in scanning probe methods : [proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Forces in Scanning Probe Methods, Schluchsee, Germany, March 7 - 18, 1994]

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    Dordrecht [u.a.]: Kluwer Acad. Publ., 1995

    Erschienen in: NATO: NATO ASI series / E ; 286

  5. Kuni, Christopher C. [VerfasserIn]; duCret, René Pierre [VerfasserIn]; DuCret, René P. [VerfasserIn]

    Manual of nuclear medicine imaging

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    New York; Stuttgart: Thieme, 1997

  6. Bogdanov, A. A. [HerausgeberIn]; Licha, Kai [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Schering-Forschungsgesellschaft

    Molecular imaging : an essential tool in preclinical research, diagnostic imaging, and therapy

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    Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, c 2005

    Erschienen in: Schering-Forschungsgesellschaft: Ernst Schering Research Foundation workshop ; 4900