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Müller, Erwin Wilhelm [Verfasser:in]; Tsong, Tien T. [Verfasser:in] ; Tsong, Tien Tzou [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Field ion microscopy, field ionization, and field evaporation - [1st ed.]

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Oxford; Braunschweig [u.a.]: Pergamon Press, 1973

Erschienen in: Progress in surface science ; 1973,0004,01
Bowkett, K. M. [Verfasser:in]; Bowkett, Kelvin Malcolm [Verfasser:in]; Smith, David Alan [Verfasser:in] ; Smith, D. A. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Field-ion microscopy

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Amsterdam [u.a.]: North-Holland, 1970

Erschienen in: Defects in crystalline solids ; 2
Müller, Erwin Wilhelm [Verfasser:in]; Tsong, Tien T. [Verfasser:in] ; Tsong, Tien Tzou [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Field ion microscopy : principles and applications

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New York: American Elsevier Publ., 1969
Wagner, Richard [Verfasser:in]

Field-ion microscopy

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1982

Erschienen in: Crystals ; 1982,6
Gomer, Robert [Verfasser:in]

Field emission and field ionization

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Cambridge, Mass.: Harvard Univ. Pr., 1961

Erschienen in: Harvard monographs in applied science ; 9
Miller, Michael K. [Verfasser:in]; Miller, Michael Kenneth [Verfasser:in]; Smith, George D. W. [Verfasser:in]

Atom probe microanalysis : principles and applications to materials problems

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Pittsburgh, PA: Materials Research Society, 1989
Murr, Lawrence E. [Verfasser:in]

Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications - [2. ed., rev. and expanded]

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New York [u.a.]: Dekker, 1991

Erschienen in: Optical engineering ; 29.1991
Tsong, Tien T. [Verfasser:in]

Atom-probe field ion microscopy : field ion emission and surfaces and interfaces at atomic resolution - [1. publ.]

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Cambridge [u.a.]: Cambridge University Press, 1990
Busch, Ralf [Verfasser:in]; Schneider, Susanne [Verfasser:in]; Samwer, Konrad [Verfasser:in]

Analytical field ion microscopy of the solid state amorphization reaction in vapour deposited Zr/Co double layers

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Göttingen: Vandenhoeck & Ruprecht, 1991

Erschienen in: Akademie der Wissenschaften in Göttingen: Nachrichten der Akademie der Wissenschaften zu Göttingen, Mathematisch-Physikalische Klasse ; 1991,1
Katnagallu, Shyam Swaroop [Verfasser:in] ; Drautz, Ralf [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Raabe, Dierk [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] Fakultät für Maschinenbau

On chemically sensitive atomic scale imaging

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Bochum: Ruhr-Universität Bochum, 2018
Prämassing, Mike [Verfasser:in]

Experimental Near-Field Characterization of Plasmonic Nanostructures

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Bonn: Universitäts- und Landesbibliothek Bonn, 2021
Jambreck, Joachim Dietmar [Verfasser:in] ; Frey, Lothar [Akademische:r Betreuer:in]

Entwicklung und Herstellung von neuartigen Sonden für die elektrische und optische Rastersondenmikroskopie

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Erlangen: Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), 2015
Ksenofontov, V. A.; Sadanov, E. V.; Velikodnaya, O. A.

Low-field ion microscopy

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Pleiades Publishing Ltd, 2009

Erschienen in: Technical Physics, 54 (2009) 4, Seite 580-585
HONO, Kazuhiro; SAKURAI, Toshio

Field Ion Microscopy

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Japan Society for Precision Engineering, 1991

Erschienen in: Journal of the Japan Society for Precision Engineering, 57 (1991) 7, Seite 1145-1149
Carroll, J.J.; Klein, R.; Melmed, A.J.

Thorium field ion microscopy

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Elsevier BV, 1980

Erschienen in: Surface Science, 93 (1980) 1, Seite L93-L97
Carroll, J.J.; Klein, R.; Melmed, A.J.

Thorium field ion microscopy

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Elsevier BV, 1980

Erschienen in: Surface Science Letters, 93 (1980) 1, Seite L93-L97
Melmed, A J; Smit, J

Field-ion transmission microscopy

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IOP Publishing, 1979

Erschienen in: Journal of Physics E: Scientific Instruments, 12 (1979) 5, Seite 355-356
Van Oostrom, A.

Field ion microscopy

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Elsevier BV, 1973

Erschienen in: Surface Science, 35 (1973), Seite 302-303
Clum, James A.

Field Ion Microscopy

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American Association for the Advancement of Science (AAAS), 1973

Erschienen in: Science, 180 (1973) 4088, Seite 816-816
Clum, James A.

Field Ion Microscopy

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American Association for the Advancement of Science (AAAS), 1973

Erschienen in: Science, 180 (1973) 4088, Seite 816-816

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