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  3. Hanssen, Karl-Joseph [VerfasserIn] ; Physikalisch-Technische Bundesanstalt Abteilung Atomphysik

    Anwendungen und Grenzen der elektronenmikroskopischen Holographie, unter besonderer Berücksichtigung der Rauscheinflüsse, die von Objektträgerfolie und Hologrammplatte ausgehen : Vortrag im Institut für Elektronenmikroskopie der Max-Planck-Gesellschaft in Berlin-Dahlem am 25. März 1982

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    Braunschweig [u.a.]: Physikal.-Techn. Bundesanst., 1982

    Erschienen in: Physikalisch-Technische Bundesanstalt: Bericht ; 1700

  5. Völkl, Edgar [VerfasserIn]; Allard, Lawrence F. [VerfasserIn]; Joy, David C. [VerfasserIn]

    Introduction to electron holography

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    New York [u.a.]: Kluwer Acad. / Plenum Publ., 1999

  14. Hanßen, Karl-Joseph [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Lauer, Rolf [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Ade, George [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Physikalisch-Technische Bundesanstalt Abteilung Atomphysik, Dreiländertagung Elektronenmikroskopie 1985 Konstanz

    Beiträge zur Nachverarbeitung elektronenmikroskopischer Aufnahmen und zur Elektronenholographie : Beiträge zur Dreiländertagung Elektronenmikroskopie 1985 unter Einschluss der 22. Tagung der Dreiländertagung Elektronenmikroskopie, Konstanz 15. bis 21. September

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    Braunschweig: Physikal.-Techn. Bundesanstalt, 1985

    Erschienen in: Physikalisch-Technische Bundesanstalt: Bericht ; 2500

  19. Mühle, Uwe [VerfasserIn] ; Rafaja, David [AkademischeR BetreuerIn]; Rafaja, David [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Lichte, Hannes [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Zschech, Ehrenfried [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Spezielle Anwendungen der Transmissionselektronenmikroskopie in der Siliziumhalbleiterindustrie

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    Freiberg: Technische Universitaet Bergakademie Freiberg Universitaetsbibliothek "Georgius Agricola", 2015

  20. Genz, Florian [VerfasserIn] ; Lehmann, Michael [AkademischeR BetreuerIn]; Zweck, Josef [AkademischeR BetreuerIn]

    Atomar auflösende Off-Axis-Elektronenholographie mit zwei Biprismen

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    Berlin: Technische Universität Berlin, 2014