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  1. Henninges, Heiner [Verfasser:in]

    Scannen : Technik und Praxis - [2. Dr.]

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    Haar bei München: Markt-&-Technik, Buch- und Software-Verl., 1994

  9. Katys, Georgij Petrovič [Verfasser:in]

    Avtomatičeskoe skanirovanie

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    Moskva: Izd. "Mašinostroenie", 1969

  11. Hearle, John W. S. [Verfasser:in]; Sparrow, John T. [Verfasser:in]; Cross, Patricia M. [Verfasser:in] ; Hearle, John William Stanley [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Sparrow, John Templeton [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Cross, Patricia Margaret [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    The use of the scanning electron microscope - [1. ed.]

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    Oxford [u.a.]: Pergamon Press, 1972

  15. Bhushan, Bharat [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Fuchs, Harald [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Applied scanning probe methods / 11, Scanning probe microscopy techniques : with ... 17 tables / Bharat Bhushan; Harald Fuchs

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    Berlin; Heidelberg: Springer, 2009

    Erschienen in: Applied scanning probe methods ; 11

  17. Bhushan, Bharat [Herausgeber:in]

    Applied scanning probe methods

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    Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2004-2009

    Erschienen in: NanoScience and technology

  18. Meyer, Ernst [Verfasser:in]; Hug, Hans Josef [Verfasser:in]; Bennewitz, Roland [Verfasser:in]

    Scanning probe microscopy : the lab on a tip

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    Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2004

    Erschienen in: Advanced texts in physics- Physics and astronomy online library