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  1. Chohan, Talha [Verfasser:in] ; Mikolajick, Thomas [Akademische:r Betreuer:in]; Schmitz, Jurriaan [Akademische:r Betreuer:in] Technische Universität Dresden

    Reliability investigations of MOSFETs using RF small signal characterization

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    Dresden, 07.06.2023

    Erschienen in: Research at namlab

  2. Sze, S. M. [Verfasser:in]; Li, Yiming [Verfasser:in]; Ng, Kwok Kwok [Verfasser:in] ; Smoliner, Jürgen [Übersetzer:in] Wiley-VCH

    Physik der Halbleiterbauelemente

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    Weinheim: WILEY-VCH, [2022]