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  1. Tompkins, Harland G. [HerausgeberIn]

    Handbook of ellipsometry

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    Norwich, NY [u.a.]: Andrew [u.a.], 2005 ; Heidelberg: Springer, 2005

  2. Azzam, Rasheed M. [VerfasserIn]; Azzam, Rasheed Mohammed Abdel-Goward [VerfasserIn]; Bashara, N. M. [VerfasserIn] ; Bashara, Nicholas M. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Ellipsometry and polarized light - [Repr., paperback ed]

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    Amsterdam [u.a.]: North-Holland, 1987

    Erschienen in: North-Holland personal library

  3. Kratz, Christoph Andreas [VerfasserIn] ; Esser, Norbert [AkademischeR BetreuerIn]; Esser, Norbert [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Hinrichs, Karsten [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Heberle, Joachim [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    SEIRA optofluidics of sub-monolayers of biomolecules in nL-volumes

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    Berlin: Technische Universität Berlin, 2019

  4. Tompkins, Harland G. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Irene, Eugene A. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Handbook of ellipsometry

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    Norwich, NY; Heidelberg, Germany: William Andrew Pub, 2005 ; Heidelberg, Germany: Springer, 2005 ; Online-Ausg.

  5. Sakalauskas, Egidijus [VerfasserIn] ; Goldhahn, Rüdiger [AkademischeR BetreuerIn]; Esser, Norbert [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Krischok, Stefan [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Optical Properties of Wurtzite InN and Related Alloys

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    Ilmenau: TU Ilmenau, 2013

  6. Engmann, Sebastian [VerfasserIn] ; Gobsch, Gerhard [AkademischeR BetreuerIn]; Parisi, Juergen [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Richter, Lee [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Spectroscopic Ellipsometry Study on the Morphology of Polymer/Fullerene Solar Cells

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    Ilmenau: TU Ilmenau, 2014

  7. Zviagin, Vitaly [VerfasserIn] ; Grundmann, Marius [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Zollner, Stefan [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Ellipsometric Determination of Cation Disorder in Magnetically Ordered Spinel Ferrite Thin Films

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    Leipzig: Universitätsbibliothek Leipzig, 2019

  8. Negara, Christian Emanuel [VerfasserIn] ; Beyerer, J. [MitwirkendeR]; Lemmer, Uli [MitwirkendeR]

    Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen

    Hochschulschriften
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    KIT Scientific Publishing, Karlsruhe, 2023-01-01