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  1. Montrose, Mark I. [VerfasserIn]; Nakauchi, Edward M. [VerfasserIn]

    Testing for EMC compliance : approaches and techniques

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    Piscataway, NJ: IEEE Press [u.a.], c2004 ; Hoboken, NH: Wiley-Interscience, c2004

  2. Aleksandrov, Evgenij B. [VerfasserIn]; Čajka, Marija P. [VerfasserIn]; Chvostenko, Gennadij I. [VerfasserIn] ; Aleksandrov, Evgenij Borisovič [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Čaika, Marija Pavlovna [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Chvostenko, Gennadij Ivanovič [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Interference of atomic states : with 59 figures

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    Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1993

    Erschienen in: Springer series on atoms and plasmas ; 7

  3. Françon, Maurice [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Francon, Maurice [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; International Commission for Optics

    Le Contraste de phase et le contraste par interférences <15-21 Mai 1951>

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    Paris: Revue d'optique théorique et instrumentale, 1952

    Erschienen in: Colloques de la Commission internationale d'optique

  4. Morrison, Ralph [VerfasserIn]

    Solving interference problems in electronics

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    New York; Chichester [u.a.]: Wiley, 1995

    Erschienen in: Wiley-Interscience publication

  5. Ulaby, Fawwaz T. [VerfasserIn]; Dobson, M. Craig [VerfasserIn]

    Handbook of radar scattering statistics for terrain

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    Boston; London: Artech House, [2019]

    Erschienen in: Artech House Remote Sensing Library