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  1. Nolze, Gert [VerfasserIn]; Tokarski, Tomasz [VerfasserIn]; Rychłowski, Łukasz [VerfasserIn]; 3AGH University of Science and TechnologyAcademic Centre for Materials and NanotechnologyMickiewicza 30 Krakow 30-059 Poland [VerfasserIn]

    Use of electron backscatter diffraction patterns to determine the crystal lattice. Part 2. Offset corrections

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    International Union of Crystallography; 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England, 2023-02-24

  11. Sajeed, Shihan; Radchenko, Igor; Kaiser, Sarah; Bourgoin, Jean-Philippe; Pappa, Anna; Monat, Laurent; Legré, Matthieu; Makarov, Vadim

    Publisher's Note: Attacks exploiting deviation of mean photon number in quantum key distribution and coin tossing [Phys. Rev. A91, 032326 (2015)]

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    American Physical Society (APS), 2015

    Erschienen in: Physical Review A

  18. Tukhbatullina, Alina A.; Shepelevich, Igor S.; Sabirov, Denis Sh.

    Positional isomerism, stability, and polarizability of C20(CH2)n(n= 1–10), the cyclopropane adducts of the smallest fullerene: General formula for calculation of mean polarizability of fullerene derivatives C20XnYmand C60XnYmwith fixed (n+m) number of different addends

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    Informa UK Limited, 2017

    Erschienen in: Fullerenes, Nanotubes and Carbon Nanostructures