CEI Commission Electrotechnique Internationale (8)
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IEC International Electrotechnical Commission (8)
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IEC Internationale Elektrotechnische Kommission (8)
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ISO International Organization for Standardization (8)
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ISO Internationale Organisation für Normung (8)
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ISO Organisation Internationale de Normalisation (8)
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ISO/CEI JTC 1/SC 32 (6)
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ISO/IEC JTC 1/SC 32 (6)
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ISO/IEC JTC 1/SC 32 Daten-Management und Daten-Austausch (6)
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Hunger, Michael (3)
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Bratanic, Tomaz (2)
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Gift, Noah (2)
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O'Reilly (Firm) (2)
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Pragmatic AI Solutions (Firm) (2)
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Simon, Mark (2)
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Angelakos, Jimmy (1)
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Angermann, Dirk (1)
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Benita, Haki (1)
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Blum, Richard (1)
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Bratanič, Tomaž (1)
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Brücher, Cornel (1)
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Chan, Jamie (1)
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Chernenko, Mykyta (1)
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Ciolli, Gianni (1)
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Cuantum Technologies, LLC (1)
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Ferrari, Luca (1)
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Fessel, Kimberly (1)
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Forta, Ben (1)
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Fuller, Matt (1)
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Gilmore, W. J. (1)
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Gu, Xingzhu (1)
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Hara, Takafumi (1)
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ISO/CEI JTC 1 Technologies de l'information (1)
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ISO/CEI JTC 1/SC 37 Biométrie (1)
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ISO/IEC JTC 1 ISO/IEC Joint Technical Commitee for Information Technology (1)
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ISO/IEC JTC 1 ISO/IEC-Gemeinschaftskomitee für Informationstechnik (1)
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ISO/IEC JTC 1/SC 37 Biometrics (1)
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ISO/IEC JTC 1/SC 37 Biometrie (1)
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Jüdes, Frank (1)
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Kollmann, Wulf (1)
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Korchunov, Artem (1)
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Kumar, Vibhor (1)
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Lahoud, Pam (1)
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Lassoff, Mark (1)
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LeMaire, Chrissy (1)
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Lehmer, Jim (1)
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Linoff, Gordon (1)
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Liu, Jiankang (1)
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Lopes, Pedro (1)
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MCCLAIN, BONNY P. (1)
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Machado, Rui (1)
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Manning (Firm) (1)
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Manning Publications (1)
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Manning Publications (Firm) (1)
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Mejías, Boriss (1)
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Moser, Manfred (1)
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Needham, Mark (1)
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O'Reilly & Associates (1)
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Packt Publishing (1)
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Pirozzi, Enrico (1)
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Pomfret, Jess (1)
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Rajanna, Kishen Das Kondabagilu (1)
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Riggs, Simon (1)
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Russa, Hélder (1)
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Safari, an O’Reilly Media Company (1)
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Sewell, Rob (1)
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Silva, Cláudio T. (1)
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Simons, Michael (1)
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Smith, Gregory (1)
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Taylor, Allen G. (1)
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Traverso, Martin (1)
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Vaccaro, Guy (1)
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Valentine, Thomas (1)
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Wang, Xuechang (1)
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Wu, Hua (1)
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Yadav, Rishi (1)
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Zhang, Chen (1)
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Zhao, Alice (1)
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Zhou, Juan (1)
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