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Chejker, Daniėl' M. [VerfasserIn]; Zevin, Lev S. [VerfasserIn]

Rentgenovskaja difraktometrija

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Moskva: Gos. Izd. Fiz.-Mat. Lit., 1963

Erschienen in: Fiziko-matematičeskaja biblioteka inženera
Kinne, Andreas [VerfasserIn]

Möglichkeiten und Grenzen des Einsatzes von Bildplattendetektoren in der Röntgendiffraktometrie

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1998
Allmann, Rudolf [VerfasserIn]

Röntgenpulverdiffraktometrie : rechnergestützte Auswertung, Phasenanalyse und Strukturbestimmung

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Köln: von Loga, 1994 [erschienen 1997] ; [Berlin; Heidelberg; New York; Barcelona; Budapest; Hongkong; London; Mailand; Paris; Santa Clara; Singapur; Tokio]: Springer, 1994 [erschienen 1997]

Erschienen in: Clausthaler tektonische Hefte ; 2900
Brüning, Karsten [VerfasserIn]

In-situ structure characterization of elastomers during deformation and fracture

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Cham [u.a.]: Springer, 2014

Erschienen in: Springer Theses
Soukup, Rudolf Werner [VerfasserIn]

Paracelsus und die Röntgendiffraktometrie : archäometrische Nachweise für die Herstellung paracelsischer Präparate in einem Laboratorium des 16. Jahrhunderts

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2010

Erschienen in: Praxis der Naturwissenschaften - Chemie in der Schule ; 59(2010), 5, Seite 12-16
Spieß, Lothar [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Schwarzer, Robert [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Behnken, Herfried [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Teichert, Gerd [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Moderne Röntgenbeugung : Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker - [1. Aufl.]

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Wiesbaden: Teubner, 2005

Erschienen in: Teubner Lehrbuch Physik
Allmann, Rudolf [VerfasserIn]; Kern, Arnt [VerfasserIn]

Röntgenpulverdiffraktometrie : rechnergestützte Auswertung, Phasenanalyse und Strukturbestimmung - [2., korrgierte und erw. Aufl]

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2003
Chung, Frank H. [HerausgeberIn]

Industrial applications of x-ray diffraction

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New York [u.a.]: Marcel Dekker, 2000
Bowen, David Keith [VerfasserIn]; Tanner, Brian K. [VerfasserIn]

High resolution X-ray diffractometry and topography

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London [u.a.]: Taylor & Francis, 1998
Rentgenometričeskij opredelitel' mineralov / 2

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Leningrad: Izd. Nedra, Leningradskoe Otd., 1965

Erschienen in: Rentgenometričeskij opredelitel' mineralov / sost. V. I. Micheev ... ; 2
Pirenne, Maurice Henry [VerfasserIn]

The diffraction of X-rays and electrons by free molecules

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Cambridge [u.a.]: Cambridge Univ. Pr., 1946

Erschienen in: The Cambridge series of physical chemistry
Luger, Peter [VerfasserIn]

Modern X-ray analysis on single crystals : a practical guide - [2. ed., fully rev. and extended]

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Berlin [u.a.]: de Gruyter, 2014
Krischner, Harald [VerfasserIn]

Einführung in die Röntgenfeinstrukturanalyse : Lehrbuch für Physiker, Chemiker, Physikochemiker, Metallurgen, Kristallographen und Mineralogen im 2. Studienabschnitt ; mit 29 Tabellen und einem Anhang - [4., überarb. Aufl.]

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Braunschweig; Wiesbaden: Vieweg, 1990
Stout, George H. [VerfasserIn]; Jensen, Lyle H. [VerfasserIn]

X-ray structure determination : a practical guide - [2. ed.]

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New York [u.a.]: Wiley, 1989

Erschienen in: A Wiley-Interscience publication
Wölfel, Erich R. [VerfasserIn]

Theorie und Praxis der Röntgenstrukturanalyse : eine Einführung für Naturwissenschaftler - [3., durchges. Aufl.]

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Braunschweig [u.a.]: Vieweg, 1987
Wölfel, Erich R. [VerfasserIn]

Theorie und Praxis der Roentgenstrukturanalyse : eine Einf. für Naturwissenschaftler - [2., verb. Aufl.]

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Braunschweig; Wiesbaden: Vieweg, 1981
Krischner, Harald [VerfasserIn]

Einführung in die Röntgenfeinstrukturanalyse : Lehrbuch für Physiker, Chemiker, Physikochemiker, Metallurgen, Kristallographen und Mineralogen im 2. Studienabschnitt : mit 33 Tabellen

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Braunschweig: Vieweg, 1974

Erschienen in: Uni-Texte
Vajnštejn, Boris K. [VerfasserIn]

Diffraction of x-rays by chain molecules - [Transl. rev. and enl. by the author]

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Amsterdam [u.a.]: Elsevier, 1966
Hosemann, Rolf [VerfasserIn]; Bagchi, Soumendra Narain [VerfasserIn]

Direct analysis of diffraction by matter

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Amsterdam: North-Holland Publishing Company, 1962

Erschienen in: Series in physics
Zachariasen, William Houlder [VerfasserIn]

Theory of x-ray diffraction in crystals - [3. print]

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New York, NY [u.a.]: Wiley [u.a.], 1951

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