Institute of Electrical and Electronics Engineers (67)
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IEEE Computer Society (32)
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Kittler, Josef (31)
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Perner, Petra (26)
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International Association for Pattern Recognition (23)
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Roli, Fabio (20)
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Apostolico, Alberto (16)
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Philips, Wilfried (14)
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Hutchison, David (13)
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Kanade, Takeo (13)
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Kleinberg, Jon (13)
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Mattern, Friedemann (13)
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Mitchell, John C. (13)
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Naor, Moni (13)
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Nierstrasz, Oscar (13)
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Pandu Rangan, C. (13)
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SPIE (13)
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Steffen, Bernhard (13)
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Sudan, Madhu (13)
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Terzopoulos, Demetri (13)
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Tygar, Doug (13)
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Vardi, Moshe Y. (13)
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Weikum, Gerhard (13)
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Hancock, Edwin R. (12)
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Pal, Sankar K. (12)
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Schwenker, Friedhelm (11)
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Computer Vision Foundation (10)
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Crochemore, Maxime (10)
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Alam, Mohammad S. (9)
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Bishop, Christopher M. (9)
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Martínez-Trinidad, José Francisco (9)
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Yetongnon, Kokou (9)
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Carrasco-Ochoa, Jesús Ariel (8)
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Escolano, Francisco (8)
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Fred, Ana (8)
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Gagalowicz, André (8)
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Jiang, Xiaoyi (8)
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Lladós, Josep (8)
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Marinai, Simone (8)
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Vento, Mario (8)
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Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung (7)
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Fu, King S. (7)
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Jain, Anil K. (7)
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Jiang, Xudong (7)
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Kropatsch, Walter G. (7)
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Pelillo, Marcello (7)
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Tiziani, Hans J. (7)
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Windeatt, Terry (7)
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Blanc-Talon, Jacques (6)
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Caelli, Terry (6)
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Cremers, Daniel (6)
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Eberhard Karls Universität Tübingen (6)
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Frühwirth, Rudolf (6)
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Galil, Zvi (6)
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Koutroumbas, Konstantinos (6)
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Sanniti di Baja, Gabriella (6)
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Strandlie, Are (6)
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Theodoridis, Sergios (6)
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Amir, Amihood (5)
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Heyden, Anders (5)
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Kamel, Mohamed (5)
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Kwon, Young-Bin (5)
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Liu, Wenyin (5)
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Loog, Marco (5)
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Mitra, Sushmita (5)
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Ogier, Jean-Marc (5)
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Popescu, Dan (5)
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Ripley, Brian D. (5)
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Ruiz-Shulcloper, José (5)
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Sanfeliu, Alberto (5)
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Sansone, Carlo (5)
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Siekmann, Jörg (5)
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Tan, Tieniu (5)
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Ukkonen, Esko (5)
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Zheng, Nanning (5)
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Amin, Adnan (4)
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Baeza-Yates, Ricardo (4)
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Bunke, Horst (4)
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Chen, Chi-hau (4)
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Chen, Guojian (4)
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De Marsico, Maria (4)
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Dipanda, Albert (4)
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Esposito, Anna (4)
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Ferragina, Paolo (4)
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Gaidzik, Peter Wolfgang (4)
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Giancarlo, Raffaele (4)
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Hlaváč, Václav (4)
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Hua zhong ke ji da xue (4)
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IEEE Biometrics Council (4)
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IEEE Computer Society Technical Committee on Machine Intelligence and Pattern Analysis (4)
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Kahl, Fredrik (4)
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Maltoni, Davide (4)
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Ngom, Alioune (4)
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Nguyen, Ngoc Thanh (4)
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Niemann, Heinrich (4)
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Pavlidis, Theodosios (4)
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Petkov, Nicolai (4)
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Scheunders, Paul (4)
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Singh, Sameer (4)
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Torsello, Andrea (4)
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