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  1. Di Gilio, Thierry [VerfasserIn]

    Reliability Study of 130nm CMOS technology submitted to hot carrier injections ; Etude de la fiabilité porteurs chauds et des performances des technologies CMOS 0.13 μm - 2nm

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    [Erscheinungsort nicht ermittelbar]: HAL CCSD, 2006

  2. Jacquet, David; Hasbani, Frederic; Flatresse, Philippe; Wilson, Robin; Arnaud, Franck; Cesana, Giorgio; Di Gilio, Thierry; Lecocq, Christophe; Roy, Tanmoy; Chhabra, Amit; Grover, Chiranjeev; Minez, Olivier; Uginet, Jacky; Durieu, Guy; Adobati, Cyril; Casalotto, Davide; Nyer, Frederic; Menut, Patrick; Cathelin, Andreia; Vongsavady, Indavong; Magarshack, Philippe

    A 3 GHz Dual Core Processor ARM Cortex TM -A9 in 28 nm UTBB FD-SOI CMOS With Ultra-Wide Voltage Range and Energy Efficiency Optimization

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    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2014

    Erschienen in: IEEE Journal of Solid-State Circuits