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  1. IEEE Workshop on Micro Electro Mechanical Systems (1995 :Amsterdam, Netherlands), American Society of Mechanical Engineers Dynamic Systems and Control Division, IEEE Robotics and Automation Society

    IEEE micro electro mechanical systems : proceedings, Amsterdam, the Netherlands, January 29-February 2, 1995

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    [New York]: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2011 ; [S.l.]: HathiTrust Digital Library

  3. Kamm, Lawrence J. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Understanding electro-mechanical engineering : an introduction to mechatronics

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    New York: Institute of Electrical and Electronics Engineers, c1996 ; Online-Ausg.: Piscataway, N.J: IEEE, 2010

    Erschienen in: IEEE Press understanding science & technology series- IEEE Xplore Digital Library

  4. Krause, Paul C. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Wasynczuk, Oleg [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Pekarek, Steven [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Electromechanical motion devices - [Second edition]

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    Piscataway, NJ; Hoboken, N.J: IEEE Press, [2012] ; Online-Ausg.

    Erschienen in: IEEE Press series on power engineering ; 34

  5. Institute of Electrical and Electronics Engineers, IEEE Robotics and Automation Society

    IEEE 25th International Conference on Micro Electro Mechanical Systems (MEMS), 2012 : Jan. 29, 2012 - Feb. 2, 2012, Paris, France

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    Piscataway, NJ: IEEE, 2012

  6. IEEE Workshop on Micro Electro Mechanical Systems (3rd :1990 :Napa Valley, Calif.), American Society of Mechanical Engineers Dynamic Systems and Control Division, IEEE Robotics and Automation Society

    Micro electro mechanical systems : an investigation of micro structures, sensors, actuators, machines, and robots : proceedings : IEEE, Napa Valley, California, 11-14, February 1990

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    New York, NY: IEEE, 1990

  7. IEEE Workshop on Micro Electro Mechanical Systems (2nd :1989 :Salt Lake City, Utah), IEEE Robotics and Automation Council

    Micro electro mechanical systems : an investigation of micro structures, sensors, actuators, machines and robots : proceedings

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    Piscataway, NJ: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1989

  8. Enns, Y.B. [VerfasserIn]; Pyatishev, E.N. [VerfasserIn]; Glukhovskoy, A. [VerfasserIn]

    Bistable arch-like beams with modulated profile as perspective supporting structures of a microelectromenchanical actuator - [published Version]

    Aufsätze
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    Bristol : Institute of Physics Publishing, 2017

    Erschienen in: Journal of Physics: Conference Series 917 (2017), Nr. 8

  10. Rolfes, I. [VerfasserIn]; Will, B. [VerfasserIn]; Schiek, B. [VerfasserIn]

    Calibration-measurement unit for the automation of vector network analyzer measurements - [published Version]

    Aufsätze
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    Göttingen : Copernicus GmbH, 2008

    Erschienen in: Advances in Radio Science 6 (2008)

  11. DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE, German Commission for Electrical, Electronic and Information Technologies of DIN and VDE, DIN Deutsches Institut für Normung e. V., DIN German Institute for Standardization

    DIN EN 60512-11-7 : Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 11-7: Klimatische Prüfungen - Prüfung 11g: Korrosionsprüfung mit strömendem Mischgas (IEC 60512-11-7:2003); Deutsche Fassung EN 60512-11-7:2003 - [2004-06-00]

    Normen
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    Berlin, Wien, Zürich: Beuth Verlag, 2004

    Erschienen in: DIN-Regelwerk- Deutsche Normen

  12. DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE, German Commission for Electrical, Electronic and Information Technologies of DIN and VDE, DIN Deutsches Institut für Normung e. V., DIN German Institute for Standardization

    DIN EN 60512-1-1 : Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 1-1: Allgemeine Untersuchungen; Prüfung 1a: Sichtprüfung (IEC 60512-1-1:2002); Deutsche Fassung EN 60512-1-1:2002 - [2003-01-00]

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    Berlin, Wien, Zürich: Beuth Verlag, 2003

    Erschienen in: DIN-Regelwerk- Deutsche Normen

  13. DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE, German Commission for Electrical, Electronic and Information Technologies of DIN and VDE, DIN Deutsches Institut für Normung e. V., DIN German Institute for Standardization

    DIN EN 60512-12-6 : Elektrisch-mechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen - Meß- und Prüfverfahren - Teil 12: Prüfungen der Lötbarkeit - Hauptabschnitt 6: Prüfung 12f: Dichtheit gegen Fluß- und Reinigungsmittel bei maschinellem Löten (IEC 60512-12-6:1996); Deutsche Fassung EN 60512-12-6:1996 - [1996-09-00]

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    Berlin, Wien, Zürich: Beuth Verlag, 1996

    Erschienen in: DIN-Regelwerk- Deutsche Normen

  14. DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE, German Commission for Electrical, Electronic and Information Technologies of DIN and VDE, DIN Deutsches Institut für Normung e. V., DIN German Institute for Standardization

    DIN EN 60512-1-4 Berichtigung 1 : Elektrisch-mechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 1: Allgemeines - Hauptabschnitt 4: Prüfung 1d: Wirksamkeit des Kontaktschutzes (Scoop-proof) (IEC 60512-1-4:1997); Deutsche Fassung EN 60512-1-4:1997, Berichtigung zu DIN EN 60512-1-4:1998-02; (IEC-Cor. :2000 zu IEC 60512-1-4:1997) - [2012-07-00]

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    Berlin, Wien, Zürich: Beuth Verlag, 2012

    Erschienen in: DIN-Regelwerk- Deutsche Normen

  15. DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE, German Commission for Electrical, Electronic and Information Technologies of DIN and VDE, DIN Deutsches Institut für Normung e. V., DIN German Institute for Standardization

    DIN EN 60512-13-1 Berichtigung 1 : Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 13-1: Prüfungen der mechanischen Bedienbarkeit - Prüfung 13a: Kupplungs- und Trennkraft (IEC 60512-13-1:2006); Deutsche Fassung EN 60512-13-1:2006, Berichtigung zu DIN EN 60512-13-1:2006-11; Deutsche Fassung CENELEC-Cor.:2006 zu EN 60512-13-1:2006 - [2008-11-00]

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    Berlin, Wien, Zürich: Beuth Verlag, 2008

    Erschienen in: DIN-Regelwerk- Deutsche Normen

  16. DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE, German Commission for Electrical, Electronic and Information Technologies of DIN and VDE, DIN Deutsches Institut für Normung e. V., DIN German Institute for Standardization

    DIN EN 60512-13-1 : Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 13-1: Prüfungen der mechanischen Bedienbarkeit - Prüfung 13a: Kupplungs- und Trennkraft (IEC 60512-13-1:2006); Deutsche Fassung EN 60512-13-1:2006 - [2006-11-00]

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    Berlin, Wien, Zürich: Beuth Verlag, 2006

    Erschienen in: DIN-Regelwerk- Deutsche Normen

  17. DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE, German Commission for Electrical, Electronic and Information Technologies of DIN and VDE, DIN Deutsches Institut für Normung e. V., DIN German Institute for Standardization

    DIN EN 60512-1-4 : Elektrisch-mechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen - Meß- und Prüfverfahren - Teil 1: Allgemeines; Hauptabschnitt 4: Prüfung 1d: Wirksamkeit des Kontaktschutzes (Scoop-proof) (IEC 60512-1-4:1997); Deutsche Fassung EN 60512-1-4:1997 - [1998-02-00]

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    Berlin, Wien, Zürich: Beuth Verlag, 1998

    Erschienen in: DIN-Regelwerk- Deutsche Normen

  18. ISO/TC 114 Zeitmesstechnik, ISO/TC 114 Horology, ISO/TC 114 Horlogerie, ISO Internationale Organisation für Normung, ISO International Organization for Standardization, ISO Organisation Internationale de Normalisation

    ISO 3764 : Timekeeping instruments - Movements - Types, dimensions and nomenclature - [2016-03-00]

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    Geneve: International Organization for Standardization, 2016

    Erschienen in: ISO-Regelwerk- ISO-Normen

  19. DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE, German Commission for Electrical, Electronic and Information Technologies of DIN and VDE, DIN Deutsches Institut für Normung e. V., DIN German Institute for Standardization

    DIN EN 60512-1-100*VDE 0687-512-1-100 : Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 1-100: Allgemeines - Zutreffende Publikationen (IEC 60512-1-100:2012); Deutsche Fassung EN 60512-1-100:2012 - [2012-10-00]

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    Berlin, Wien, Zürich: Beuth Verlag, 2012

    Erschienen in: DIN-Regelwerk- Deutsche Normen

  20. DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE, German Commission for Electrical, Electronic and Information Technologies of DIN and VDE, DIN Deutsches Institut für Normung e. V., DIN German Institute for Standardization

    DIN EN 60512-16-21*VDE 0687-512-16-21 : Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 16-21: Mechanische Prüfungen an Kontakten und Anschlüssen - Prüfung 16u: Whisker-Prüfung unter Anwendung äußerer mechanischer Beanspruchungen (IEC 60512-16-21:2012); Deutsche Fassung EN 60512-16-21:2012 - [2012-11-00]

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    Berlin, Wien, Zürich: Beuth Verlag, 2012

    Erschienen in: DIN-Regelwerk- Deutsche Normen