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  1. Fabre, Claude [VerfasserIn] ; Cortiñas, Rodrigo G. [MitwirkendeR]

    Quantum processes and measurement : theory and experiment

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    Cambridge, United Kingdom; New York, NY; Melbourne, Australia; New Delhi, India; Singapore: Cambridge University Press, 2023

  3. Klempt, Carsten [VerfasserIn]

    Conference Program - Quantum Metrology and Physics beyond the Standard Model 2019 - [published Version]

    Konferenzberichte
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    Hannover : Institutionelles Repositorium der Leibniz Universität Hannover, 2019

  4. Hockett, Paul [VerfasserIn]

    Quantum metrology with photoelectrons / Volume 2, Applications and advances - [Version: 20180401]

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    San Rafael, CA, USA: Morgan & Claypool Publishers, [2018] ; Bristol, UK: IOP Publishing, [2018]

    Erschienen in: Quantum metrology with photoelectrons / Paul Hockett (National Research Council of Canada) ; Volume 2

  5. Hockett, Paul [VerfasserIn]

    Quantum metrology with photoelectrons / Volume 1, Foundations - [Version: 20180401]

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    San Rafael, CA, USA: Morgan & Claypool Publishers, [2018] ; Bristol, UK: IOP Publishing, [2018]

    Erschienen in: Quantum metrology with photoelectrons / Paul Hockett (National Research Council of Canada) ; Volume 1

  6. Köse, Emre [VerfasserIn] ; Braun, Daniel [AkademischeR BetreuerIn]

    High-resolution imaging with multi-parameter quantum metrology in passive remote sensing

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    Tübingen: Universitätsbibliothek Tübingen, 2023

  7. Sárkány, Lőrinc [VerfasserIn] ; Fortágh, József [AkademischeR BetreuerIn]

    Engineering quantum systems for information processing and metrology using atoms, superconductors, and light

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    Tübingen: Universitätsbibliothek Tübingen, 2020

  8. Hakelberg, Frederick [VerfasserIn]; Kiefer, Philip [VerfasserIn]; Wittemer, Matthias [VerfasserIn]; Schätz, Tobias [VerfasserIn]; Warring, Ulrich [VerfasserIn]

    Hybrid setup for stable magnetic fields enabling robust quantum control

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    [London]: Macmillan Publishers Limited, part of Springer Nature, 2018

    Erschienen in: Scientific reports ; 8 (2018), 4404

  11. Yadav, Sanjay [HerausgeberIn]; Chaudhary, K.P [HerausgeberIn]; Gahlot, Ajay [HerausgeberIn]; Arya, Yogendra [HerausgeberIn]; Dahiya, Aman [HerausgeberIn]; Garg, Naveen [HerausgeberIn]

    Recent Advances in Metrology : Select Proceedings of AdMet 2021 - [1st ed. 2023.]

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    Singapore: Springer Nature Singapore, 2023. ; Singapore: Imprint: Springer, 2023.

    Erschienen in: Lecture Notes in Electrical Engineering ; 906

  12. Hemmer, Philip R. [HerausgeberIn]; Migdall, Alan L. [HerausgeberIn]; Hasan, Zameer U. [HerausgeberIn] ; Advanced Optical Techniques for Quantum Information, Sensing, and Metrology Veranstaltung 2020 San Francisco, Calif, SPIE, SPIE

    Advanced Optical Techniques for Quantum Information, Sensing, and Metrology : 4-5 February 2020, San Francisco, California, United States

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2020]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 11295

  13. Fiderer, Lukas J. [VerfasserIn] ; Braun, Daniel [AkademischeR BetreuerIn]

    New Concepts in Quantum Metrology : Dynamics, Machine Learning, and Bounds on Measurement Precision

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    Tübingen: Universitätsbibliothek Tübingen, 2020

  16. Fraïsse, Julien Mathieu Elias [VerfasserIn] ; Braun, Daniel [AkademischeR BetreuerIn]

    New concepts in quantum-metrology : From coherent averaging to Hamiltonian extensions

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    Tübingen: Universitätsbibliothek Tübingen, 2018

  17. Tamascelli, Dario [VerfasserIn]; Benedetti, Claudia [VerfasserIn]; Breuer, Heinz-Peter [VerfasserIn]; Paris, Matteo [VerfasserIn]

    Quantum probing beyond pure dephasing

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    London: IOP Publishing, 2020

    Erschienen in: New journal of physics ; 22, 8 (2020), 083027

  20. Sárkány, Lőrinc [VerfasserIn] ; Eberhard Karls Universität Tübingen

    Engineering quantum systems for information processing and metrology using atoms, superconductors, and light

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    Tübingen, 2018