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  4. Hockett, Paul [Verfasser:in]

    Quantum metrology with photoelectrons / Volume 2, Applications and advances - [Version: 20180401]

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    San Rafael, CA, USA: Morgan & Claypool Publishers, [2018] ; Bristol, UK: IOP Publishing, [2018]

    Erschienen in: Quantum metrology with photoelectrons / Paul Hockett (National Research Council of Canada) ; Volume 2

  5. Hockett, Paul [Verfasser:in]

    Quantum metrology with photoelectrons / Volume 1, Foundations - [Version: 20180401]

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    San Rafael, CA, USA: Morgan & Claypool Publishers, [2018] ; Bristol, UK: IOP Publishing, [2018]

    Erschienen in: Quantum metrology with photoelectrons / Paul Hockett (National Research Council of Canada) ; Volume 1

  7. Sárkány, Lőrinc [Verfasser:in] ; Fortágh, József [Akademische:r Betreuer:in]

    Engineering quantum systems for information processing and metrology using atoms, superconductors, and light

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    Tübingen: Universitätsbibliothek Tübingen, 2020

  8. Hakelberg, Frederick [Verfasser:in]; Kiefer, Philip [Verfasser:in]; Wittemer, Matthias [Verfasser:in]; Schätz, Tobias [Verfasser:in]; Warring, Ulrich [Verfasser:in]

    Hybrid setup for stable magnetic fields enabling robust quantum control

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    [London]: Macmillan Publishers Limited, part of Springer Nature, 2018

    Erschienen in: Scientific reports ; 8 (2018), 4404

  9. Köse, Emre [Verfasser:in] ; Eberhard Karls Universität Tübingen

    High-resolution imaging with multi-parameter quantum metrology in passive remote sensing

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    Tübingen, 2023

  11. Yadav, Sanjay [Herausgeber:in]; Chaudhary, K.P [Herausgeber:in]; Gahlot, Ajay [Herausgeber:in]; Arya, Yogendra [Herausgeber:in]; Dahiya, Aman [Herausgeber:in]; Garg, Naveen [Herausgeber:in]

    Recent Advances in Metrology : Select Proceedings of AdMet 2021 - [1st ed. 2023.]

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    Singapore: Springer Nature Singapore, 2023. ; Singapore: Imprint: Springer, 2023.

    Erschienen in: Lecture Notes in Electrical Engineering ; 906

  13. Hemmer, Philip R. [Herausgeber:in]; Migdall, Alan L. [Herausgeber:in]; Hasan, Zameer U. [Herausgeber:in] ; Advanced Optical Techniques for Quantum Information, Sensing, and Metrology Veranstaltung 2020 San Francisco, Calif, SPIE, SPIE

    Advanced Optical Techniques for Quantum Information, Sensing, and Metrology : 4-5 February 2020, San Francisco, California, United States

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2020]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 11295

  15. Ilias, Theodoros [Verfasser:in] ; Universität Ulm

    Application of quantum many-body physics in quantum metrology

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    Ulm, October 2023

  17. Tamascelli, Dario [Verfasser:in]; Benedetti, Claudia [Verfasser:in]; Breuer, Heinz-Peter [Verfasser:in]; Paris, Matteo [Verfasser:in]

    Quantum probing beyond pure dephasing

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    London: IOP Publishing, 2020

    Erschienen in: New journal of physics ; 22, 8 (2020), 083027

  18. Fiderer, Lukas J. [Verfasser:in] ; Eberhard Karls Universität Tübingen

    New concepts in quantum metrology: dynamics, machine learning, and bounds on measurement precision

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    Tübingen, 2019

  20. Sárkány, Lőrinc [Verfasser:in] ; Eberhard Karls Universität Tübingen

    Engineering quantum systems for information processing and metrology using atoms, superconductors, and light

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    Tübingen, 2018