Zum Inhalt springen Eigler, Hans [VerfasserIn] Die Zuverlässigkeit von Elektronik- und Mikrosystemen : und ihr Zusammenhang mit Physik, Chemie und Metallkunde ; mit 21 Tabellen Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Renningen-Malmsheim: Expert Verl., 2003
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> Verfügbarkeit Skip to next facet Freihand verfügbar (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Standort Skip to next facet Bereichsbibliothek DrePunct (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Person/Institution Skip to next facet Eigler, Hans (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen