Zum Inhalt springen Solowan, Hans-Michael [VerfasserIn] ; Schwarz, Ulrich T. [AkademischeR BetreuerIn] Charge carrier dynamics in InGaN quantum wells: stimulated emission depletion and lateral charge carrier motion Bücher Online ansehen Schließen > Zugang https://d-nb.info/1119452694/34 kostenfrei Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Freiburg: Universität, 2016 Solowan, Hans-Michael [VerfasserIn] Charge carrier dynamics in InGaN quantum wells : stimulated emission depletion and lateral charge carrier motion Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang und weitere Informationen zur Ressource Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Freiburg im Breisgau, Dezember 2015 Solowan, Hans-Michael; Danhof, Julia; Schwarz, Ulrich T. Direct Observation of Charge Carrier Diffusion and Localization in an InGaN Multi Quantum Well Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. IOP Publishing, 2013 Erschienen in: Japanese Journal of Applied Physics Steinert, Steffen; Solowan, Hans-Michael; Park, Jinback; Han, Hakseung; Beyer, Dirk; Scherübl, Thomas Registration performance on EUV masks using high-resolution registration metrology Konferenzberichte Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via DOI) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. SPIE, 2016 Erschienen in: SPIE Proceedings Lin, Kang-Yi; Preischl, Christian; Hermanns, Christian Felix; Rhinow, Daniel; Solowan, Hans-Michael; Budach, Michael; Edinger, Klaus; Oehrlein, G. S. SiO2 etching and surface evolution using combined exposure to CF4/O2 remote plasma and electron beam Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. American Vacuum Society, 2022 Erschienen in: Journal of Vacuum Science & Technology A Lin, Kang-Yi; Preischl, Christian; Hermanns, Christian Felix; Rhinow, Daniel; Solowan, Hans-Michael; Budach, Michael; Marbach, Hubertus; Edinger, Klaus; Oehrlein, G. S. Electron beam-induced etching of SiO2, Si3N4, and poly-Si assisted by CF4/O2 remote plasma Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. American Vacuum Society, 2023 Erschienen in: Journal of Vacuum Science & Technology A Brar, Victor W.; Decker, Régis; Solowan, Hans-Michael; Wang, Yang; Maserati, Lorenzo; Chan, Kevin T.; Lee, Hoonkyung; Girit, Çağlar O.; Zettl, Alex; Louie, Steven G.; Cohen, Marvin L.; Crommie, Michael F. Gate-controlled ionization and screening of cobalt adatoms on a graphene surface Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Springer Science and Business Media LLC, 2011 Erschienen in: Nature Physics
Solowan, Hans-Michael [VerfasserIn] ; Schwarz, Ulrich T. [AkademischeR BetreuerIn] Charge carrier dynamics in InGaN quantum wells: stimulated emission depletion and lateral charge carrier motion Bücher Online ansehen Schließen > Zugang https://d-nb.info/1119452694/34 kostenfrei Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Freiburg: Universität, 2016
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Solowan, Hans-Michael; Danhof, Julia; Schwarz, Ulrich T. Direct Observation of Charge Carrier Diffusion and Localization in an InGaN Multi Quantum Well Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. IOP Publishing, 2013 Erschienen in: Japanese Journal of Applied Physics
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Steinert, Steffen; Solowan, Hans-Michael; Park, Jinback; Han, Hakseung; Beyer, Dirk; Scherübl, Thomas Registration performance on EUV masks using high-resolution registration metrology Konferenzberichte Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via DOI) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. SPIE, 2016 Erschienen in: SPIE Proceedings
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Lin, Kang-Yi; Preischl, Christian; Hermanns, Christian Felix; Rhinow, Daniel; Solowan, Hans-Michael; Budach, Michael; Edinger, Klaus; Oehrlein, G. S. SiO2 etching and surface evolution using combined exposure to CF4/O2 remote plasma and electron beam Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. American Vacuum Society, 2022 Erschienen in: Journal of Vacuum Science & Technology A
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Lin, Kang-Yi; Preischl, Christian; Hermanns, Christian Felix; Rhinow, Daniel; Solowan, Hans-Michael; Budach, Michael; Marbach, Hubertus; Edinger, Klaus; Oehrlein, G. S. Electron beam-induced etching of SiO2, Si3N4, and poly-Si assisted by CF4/O2 remote plasma Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. American Vacuum Society, 2023 Erschienen in: Journal of Vacuum Science & Technology A
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Brar, Victor W.; Decker, Régis; Solowan, Hans-Michael; Wang, Yang; Maserati, Lorenzo; Chan, Kevin T.; Lee, Hoonkyung; Girit, Çağlar O.; Zettl, Alex; Louie, Steven G.; Cohen, Marvin L.; Crommie, Michael F. Gate-controlled ionization and screening of cobalt adatoms on a graphene surface Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Springer Science and Business Media LLC, 2011 Erschienen in: Nature Physics
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> Medientyp Skip to next facet Aufsätze (4) Wert ausschließen Bücher (2) Wert ausschließen Konferenzberichte (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Zugangsstatus Skip to next facet Freier Zugang (2) Wert ausschließen Ohne Angabe (5) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Sprache Skip to next facet Englisch (5) Wert ausschließen Nicht zu entscheiden (2) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Fachgebiet Skip to next facet Physik (4) Wert ausschließen Allgemeines (2) Wert ausschließen Technik (2) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Person/Institution Skip to next facet Solowan, Hans-Michael (7) Wert ausschließen Budach, Michael (2) Wert ausschließen Edinger, Klaus (2) Wert ausschließen Hermanns, Christian Felix (2) Wert ausschließen Lin, Kang-Yi (2) Wert ausschließen Oehrlein, G. S. (2) Wert ausschließen Preischl, Christian (2) Wert ausschließen Rhinow, Daniel (2) Wert ausschließen Schwarz, Ulrich T. (2) Wert ausschließen Beyer, Dirk (1) Wert ausschließen Brar, Victor W. (1) Wert ausschließen Chan, Kevin T. (1) Wert ausschließen Cohen, Marvin L. (1) Wert ausschließen Crommie, Michael F. (1) Wert ausschließen Danhof, Julia (1) Wert ausschließen Decker, Régis (1) Wert ausschließen Girit, Çağlar O. (1) Wert ausschließen Han, Hakseung (1) Wert ausschließen Lee, Hoonkyung (1) Wert ausschließen Louie, Steven G. (1) Wert ausschließen Marbach, Hubertus (1) Wert ausschließen Maserati, Lorenzo (1) Wert ausschließen Park, Jinback (1) Wert ausschließen Scherübl, Thomas (1) Wert ausschließen Steinert, Steffen (1) Wert ausschließen Wang, Yang (1) Wert ausschließen Zettl, Alex (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Kollektion Skip to next facet American Vacuum Society (CrossRef) (2) Wert ausschließen Diss online (1) Wert ausschließen IOP Publishing (CrossRef) (1) Wert ausschließen Lizenzfreie Online-Ressourcen (1) Wert ausschließen SPIE (CrossRef) (1) Wert ausschließen Springer Science and Business Media LLC (CrossRef) (1) Wert ausschließen Verbunddaten SWB (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen