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  7. Wunderlich, Hans-Joachim [VerfasserIn]; Ströle, Albrecht P. [VerfasserIn]

    Maximizing the fault coverage in complex circuits by minimal number of signatures

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    1991 ; Online-Ausg.: Stuttgart: Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart, 2012

  8. Ströle, Albrecht P. [VerfasserIn]; Wunderlich, Hans-Joachim [VerfasserIn]

    TESTCHIP: a chip for weighted random pattern generation, evaluation, and test control

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    1991 ; Online-Ausg.: Stuttgart: Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart, 2012

  10. Ströle, Albrecht P. [VerfasserIn]; Wunderlich, Hans-Joachim [VerfasserIn]; Haberl, Oliver [VerfasserIn]

    TESTCHIP: a chip for weighted random pattern generation, evaluation, and test control

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    1990 ; Online-Ausg.: Stuttgart: Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart, 2012

  11. Kesel, Frank [VerfasserIn]; Wunderlich, Hans-Joachim [VerfasserIn]

    Automatische Synthese selbsttestbarer Moduln für hochkomplexe Schaltungen

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    1989 ; Online-Ausg.: Stuttgart: Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart, 2012

  12. Ranney, Kenneth I. [HerausgeberIn] ; Radar Sensor Technology Veranstaltung 2015 Baltimore, Md, SPIE, SPIE, Active and Passive Signatures Veranstaltung 2015 Baltimore, Md

    Radar Sensor Technology XIX, and Active and Passive Signatures VI : 20-23 April 2015, Baltimore, Maryland, United States

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2015]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 9461

  13. Zhang, David [VerfasserIn] ; Jain, Anil K. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Biometric Authentication : First International Conference, ICBA 2004, Hong Kong, China, July 15-17, 2004. Proceedings

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    Berlin; Heidelberg: Springer, 2004

    Erschienen in: Lecture notes in computer science ; 307200

  14. Katschan, Igor [VerfasserIn]; Mikitiuk, Viatcheslav [VerfasserIn]; Ströle, Albrecht [VerfasserIn]; Yarmolik, Viatcheslav [VerfasserIn]

    Berechnung der exakten Fehlererfassung beim Test mit Signaturanalyse

    Aufsätze
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    KITopen (Karlsruhe Institute of Technologie), 2008-01-16