Zum Inhalt springen

  1. Pecht, Michael [VerfasserIn]; Radojcic, Riko [VerfasserIn]; Rao, Gopal K. [VerfasserIn]

    Guidebook for managing silicon chip reliability

    Bücher
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Boca Raton, Fla. [u.a.]: CRC Press, 1999

    Erschienen in: The electronic packaging series

  2. Dal Cin, Mario [HerausgeberIn]

    Dependable computing for critical applications / 6, [Sixth IFIP International Working Conference on Dependable Computing for Critical Applications, Garmisch-Partenkirchen, Germany, March 5-7, 1997] / Mario Dal Cin ... (eds.)

    Bücher
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Los Alamitos, Calif. [u.a.]: IEEE Computer Society, 1998

    Erschienen in: Dependable computing for critical applications ; 6 - Dependable computing and fault tolerant systems ; 11

  3. Cannon, A. G. [HerausgeberIn]; Bendell, A. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Reliability data banks

    Bücher
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    London; New York: Elsevier Applied Science, 1991

  4. Băjenescu, Titu I. [VerfasserIn]; Bâzu, Marius I. [VerfasserIn] ; Băjenescu, Titu-Marius I. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Component reliability for electronic systems

    Bücher
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Boston, Mass. [u.a.]: Artech House, 2010

  5. De Souza, Gilberto Francisco Martha [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Souza, Gilberto Francisco Martha de [HerausgeberIn]

    Thermal power plant performance analysis

    Bücher
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    London; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2012

    Erschienen in: Springer series in reliability engineering