author = { Apel, Daniel Genzel, Christoph },

title = { Tiefenaufgelöste Analyse randschichtnaher Struktur- und Eigenschaftsgradienten in vielkristallinen Werkstoffen mittels energiedispersiver Röntgenbeugung },

publisher = {Universitätsbibliothek der Technischen Universität Berlin},

keywords = { Rietveld-Methode , energiedispersive Röntgendiffraktion , Linienprofilanalyse , Eigenspannungsgradientenanalyse Rietveld-method, energy-dispersive X-ray diffraction, line-profile analysis, residual stress gradient analysis , Hochschulschrift },

year = {2013},

address = { Berlin },

url = { http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2 }