author = { DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE AND German Commission for Electrical, Electronic and Information Technologies of DIN and VDE AND DIN Deutsches Institut für Normung e. V. AND DIN German Institute for Standardization },

title = { DIN EN IEC 62024-1 Induktive Hochfrequenz-Bauelemente - Elektrische Eigenschaften und Messmethoden - Teil 1: Chipinduktivitäten im Nanohenry-Bereich (IEC 51/1441/CDV:2023); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 62024-1:2023 },

edition = { 2023-10-00 } ,

publisher = {Beuth Verlag},

keywords = { Messung , Einzelteil , Prüfung , Prüfverfahren , HF , Span , elektronisches Gerät , Bauteil , Komponente , Prüfen , Metrologie , Elektronikgerät , Messverfahren , Bestandteil , Induktivität , Berechnung , Ferrit , Bauelement , Q-Faktor , Ausbauteil , induktiv , Hackschnitzel , Messtechnik , magnetisches Betriebsmittel , Resonanzfrequenz , Elektronik , Impedanz , Messwesen , magnetisches Bauelement , Wellenwiderstand , elektronisches Bauelement , Chip , elektrische Eigenschaft , Hochfrequenz , Magnetic components , High frequencies , Measurement , Inductance , Metrology , Electronic engineering , Magnetic devices , Mathematical calculations , Inductive , Measuring techniques , Q-factor , Resonant frequency , Ferrites , Components , Testing , Electrical properties and phenomena , Electrical properties , Electronic equipment and components , Electronic instruments , Chips , Impedance , Partie , Fréquence de résonance , Méthode de calcul , Calcul mathématique , Eléments de construction , Essai , Mesurage , Technique de mesurage , Evaluation , Inductance mutuelle , Composant magnétique , Electronique , HF (fréquence) , Instrument électronique , Inductance propre , Propriété et phénomène électrique , Microélectronique , Chip , Mesurage, essai et instruments , Impédance , Electronique moléculaire , Métrologie , Composant , HF , Haute fréquence , Elément de construction , Dispositif électronique , Plaquettes , Elément de soutènement , Metrologie , Ferrite , Matériel et composants électroniques , Composant électronique , Technique de mesure , Inductance , Inductif , Facteur de qualité , Méthode de mesure , Résistance d'onde , Dispositif magnétique },

year = {2023-09-08},

abstract = {Internationale Übereinstimmung mit: prEN IEC 62024-1 (2023-07), IDT*IEC 51/1441/CDV (2023-07), IDT},

booktitle = {DIN-Regelwerk},

booktitle = {Deutsche Normen},

address = { Berlin , Wien , Zürich },

url = { http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2 }