author = { ISO/IEC JTC 1/SC 17 Identifikationskarten AND ISO/IEC JTC 1/SC 17 AND ISO/CEI JTC 1/SC 17 AND ISO Internationale Organisation für Normung AND ISO International Organization for Standardization AND ISO Organisation Internationale de Normalisation AND IEC Internationale Elektrotechnische Kommission AND IEC International Electrotechnical Commission AND CEI Commission Electrotechnique Internationale },

title = { ISO/IEC 10373-1 AMD 1 Cards and security devices for personal identification - Test methods - Part 1: General characteristics - Amendment 1: Clarification of peel strength test method to be used for ISO/IEC 7810 conformance testing },

edition = { 2023-10-00 } ,

publisher = {International Organization for Standardization},

keywords = { Vermessen , Messunsicherheit , Biegebruchfestigkeit , Blase (Physik) , quer , Fläche , Form , Übereinstimmung , Widerstandsfähigkeit , ID-Karte , Widerstand , Maß , Knickfestigkeit , Resistanz , parallel , Teilungsmaß , Steuer- und Regeleinrichtung , Datenspeicherung , Verblocken , Charakteristik , chemische Beständigkeit , Prüfen , über Tage , Dimension , mechanische Trennung , schwimmende Konstruktion , Magnetpulverprüfung , Identifikationskarte , technisches Zeichnen , Muster , Peelkraft , magnetische Messung , Karte , Prüfung , Abziehfestigkeit , Personalausweis , Kennzahl , Biegefestigkeit , vertikal , Hydrostatik , Fertigungsplanung , Beständigkeit , Profilstahl , Scheidezentrifuge , Eigenschaft , Ausweis , Messwesen , Chemikalienbeständigkeit , Karde , Merkmal , Resistenz , Datenverarbeitung , Schälwiderstand , Messung , Prüfverfahren , Flüssigkeitsphänomen , Fehlertoleranz , Biegesteifigkeit , Datenträger , Dicke , Oberfläche , Abmessung , Strömungswiderstand , Informatik , Kreiselpumpe , Versuch , Ebenheit , Chemical resistance , Control equipment , Measuring uncertainty , Hydrostatics , Test results , Shape , Width across flats , Control cards , Buckling strength , Resistance , Parallel , Bending strength , Dimensions up to 500 mm , Peel strength , Bending stiffness , Cards , Characteristics , Computer sciences , Blocking , Identity cards , Dimensioning , Analysis methods , Above ground , Magnetic measurement , Trials , Quotation rules , Defects tolerances , Dimensions , Hydrostatic tests , Overall dimensions , Drag , Mechanical separation , Centrifuged materials , Vertical , Dimensions above 500 mm , Patterns , Floating structures , Resistors , Flexural strength , Magnetic-particle flaw detection , Across , Form specifications , Sections (structures) , Maps , Fluid phenomena , Measuring techniques , Data media , Testing , Properties , Centrifugal analysis , Area , Magnetic tests , Cross sections , Tests , Float measurement , Measurement , Surfaces , Production planning , Technical drawing , Determination , Data processing , Flatness (surface) , Thickness , ID cards , Bubbles , Separator centrifuges , Consistometric number , Centrifugal pumps , Peel resistance , Consistency , Measuring , Functional dimensioning , Data storage , Bubble tests , Traitement de données , Carte de controle , Resultats d'essai , Cotes d'encombrement , Cote , Methode d'analyse , Mesurage, essai et instruments , Section transversale , Carde , Carte d'identification , Traitement de l'information , Caractéristique , Essai hydrostatique , Aire , Tolérance aux pannes , Résistance , Mesurage , Cotes , Proces-verbal d'essai , Résistance à la flexion , Produit centrifuge , Dimension inferieure a 500 mm , Valeur caractéristique , Conservation des données , Methode d'essai , Dimension , Traitement automatique de l'information , Technique de mesure , Résistivité , Dimension superieure a 500 mm , Specification geometrique , Support de données , Résistance au pelage , Essai , Incertitude de mesure , Résisteur , Système de traitement de l'information , Cotation fonctionnelle , Epaisseur , Specification de forme , Indice consistometrique , Mesurage par flotteurs , Metrologie , Essai magnetique , Methode par centrifugation , Technique d'enregistrement , Support d'information , Essai bulloscopique , Informatique , Methode de mesure , Surface , Methode par flotteurs , Résistance à produits chimiques , Pointure , Planéité de surface , Métrologie , Chimiquement stable , Traitement électronique de l'information , Regle de cotation , Surplat , Carte d'identité , Determination , Carte },

year = {2023-10-00},

abstract = {Internationale Übereinstimmung mit: TS ISO/IEC 10373-1 AMD 1 (2023-11-08) - identisch; NEN-ISO/IEC 10373-1:2020/A1:2023 en (2023-10-01) - identisch},

booktitle = {ISO-Regelwerk},

booktitle = {ISO-Normen},

address = { Geneve },

url = { http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2 }