author = { ISO/TC 202 Analysenverfahren mit Feinstrahltechnik AND ISO/TC 202 Microbeam analysis AND ISO/TC 202 Analyse par microfaisceaux AND ISO Internationale Organisation für Normung AND ISO International Organization for Standardization AND ISO Organisation Internationale de Normalisation },

title = { ISO/DIS 20263 Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials },

edition = { 2024-02-00 } ,

publisher = {International Organization for Standardization},

keywords = { Schicht , Übertragung , Analyse , Mikrobereichsanalyse , Spektrometrie , Überzug , Senden , Begriffe , Elektronenmikroskopie , Mehrschichtsystem , Röntgenspektrometer , Durchlässigkeit , Übermittlung , Spektrometer , Einlage , Auskleidung , Ermittlung , Festlegung , Definition , Umkleidung , Spektroskopie , Außenschicht , Bestimmung , Grenzschicht , Transmission , Belag , Beschichtung , Querschnittstyp , Transmittances , Electron microscopy , Determination , Spectroscopy , Analysis , X-ray spectrometer , Transmission , Spectrometers , Boundary layers , Coatings , Transmitting , Coverings , Layers , Multilayer system , Jacketing , Determinations , Permability , Definitions , Outer layers , Cross section type , Microbeam analysis , Spectrometry , Internal coatings , Système multicouche , Revêtement , Spectrométrie , Détermination , Définition , Transmission , Couche limite , Analyse , Insertion , Microscopie électronique , Spectromètre },

year = {2024-02-00},

abstract = {Internationale Übereinstimmung mit: 24/30479444 DC (2024-02-05), IDT},

booktitle = {ISO-Regelwerk},

booktitle = {ISO-Normen},

address = { Geneve },

url = { http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2 }