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  1. Gopalakrishnan, Ganesh [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Windley, Phillip [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; FMCAD 2 1998 Palo Alto, Calif

    Formal methods in computer-aided design : second international conference, FMCAD '98, Palo Alto, CA, USA, November 4 - 6, 1998; proceedings

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    Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1998

    Erschienen in: Lecture notes in computer science ; 1522

  2. Borrione, Dominique [HerausgeberIn] ; International Federation for Information Processing Working Group Digital Systems Descriptions and Design Tools, Working Conference on From HDL Descriptions to Guaranteed Correct Circuit Designs 1986 Grenoble

    From HDL descriptions to guaranteed correct circuit designs : proceedings of the IFIP WG 10.2 Working Conference on From HDL Descriptions to Guaranteed Correct Circuit Designs ; Grenoble, France, 9 - 11 Sept., 1986

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    Amsterdam [u.a.]: North-Holland, 1987

  3. Moreno, Juan Manuel [HerausgeberIn]; Madrenas, Jordi [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; ICES 6 2005 Sitges

    Evolvable systems: from biology to hardware : 6th international conference, ICES 2005, Sitges, Spain, September 12 - 14, 2005 ; proceedings

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    Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2005

    Erschienen in: Lecture notes in computer science ; 3637

  4. Leeser, Miriam [HerausgeberIn] ; Cornell University Mathematical Sciences Institute

    Hardware specification, verification and synthesis : mathematical aspects ; Mathematical Sciences Institute Workshop, Cornell University, Ithaca, New York, USA, July 5 - 7, 1989 ; proceedings

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    Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1990

    Erschienen in: Lecture notes in computer science ; 408

  5. International Test Conference (1996 :Washington, D.C.), IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee, Institute of Electrical and Electronics Engineers Philadelphia Section

    Proceedings : International Test Conference 1996

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    Altoona, Pa: The Conference, 2011 ; [S.l.]: HathiTrust Digital Library

  6. Zorian, Yervant [VeranstalterIn]; Mhaidat, Khaldoon [VeranstalterIn] ; International Design & Test Symposium 10. 2015 Amman, Institute of Electrical and Electronics Engineers, Institute of Electrical and Electronics Engineers, IEEE Computer Society Test Technology Technical Council, IEEE Council on Electronic Design Automation

    Proceeding of 2015 10th International Design & test Symposium (IDT) : Dead Sea, Jordan, 14-16 December 2015

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    Piscataway, NJ: IEEE, 2015

  7. IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee, Institute of Electrical and Electronics Engineers

    2014 9th International Design & Test Symposium (IDT) : 16 - 18 Dec. 2014, Algiers, Algeria

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    Piscataway, NJ: IEEE, 2014

  8. Inoue, Michiko [VeranstalterIn]; Singh, Virendra [VeranstalterIn] ; Asian Test Symposium 24. 2015 Mumbai

    2015 Asian Test Symposium - ATS 2015 : 22-25 November 2015, Mumbai, Maharashtra, India : proceedings

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    Piscataway, NJ: IEEE, 2015