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Chejker, Daniėl' M. [VerfasserIn]; Zevin, Lev S. [VerfasserIn]

Rentgenovskaja difraktometrija

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Moskva: Gos. Izd. Fiz.-Mat. Lit., 1963

Erschienen in: Fiziko-matematičeskaja biblioteka inženera
Jacobsen, Chris [VerfasserIn]

X-ray microscopy

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Cambridge; New York; Port Melbourne; New Delhi; Singapore: Cambridge University Press, 2020

Erschienen in: Advances in microscopy and microanalysis
Haschke, Michael [VerfasserIn]

Laboratory micro-X-ray fluorescence spectroscopy : instrumentation and applications

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Cham; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2014

Erschienen in: Springer series in surface sciences ; 55
Glusker, Jenny P. [VerfasserIn]; Glusker, Jenny Pickworth [VerfasserIn]; Trueblood, Kenneth N. [VerfasserIn]

Crystal structure analysis : a primer - [3. ed.]

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Oxford [u.a.]: Oxford Univ. Press, 2010

Erschienen in: Texts on crystallography ; 14
Willemsen, Roger [VerfasserIn] ; Tesenfitz, Nina [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Tamenian, Lucine [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Hier spricht Guantánamo : Interviews mit Ex-Häftlingen

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Frankfurt am Main: Fischer-Taschenbuch-Verl., 2006

Erschienen in: Fischer Sachbücher ; 17458
Shvyd'ko, Yuri [VerfasserIn]; Shvyd'ko, Yuri V. [VerfasserIn]

X-ray optics : high-energy-resolution applications - [1. Aufl.]

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2004

Erschienen in: Springer series in optical sciences ; 98
Authier, André [VerfasserIn]

Dynamical theory of X-ray diffraction

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Oxford [u.a.]: Oxford University Press, 2001

Erschienen in: Internationale Union für Kristallographie: IUCr monographs on crystallography ; 11
Massa, Werner [VerfasserIn]

Crystal structure determination : with 16 tables

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Berlin [u.a.]: Springer, 2000
Galanski, Michael [HerausgeberIn]; Prokop, Mathias [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Horrmann, Joachim [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Jörgensen, Maik [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Ganzkörper-Computertomographie : 211 Tabellen

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Stuttgart [u.a.]: Thieme, 1998

Erschienen in: Referenz-Reihe radiologische Diagnostik
Massa, Werner [VerfasserIn]

Kristallstrukturbestimmung - [2., überarb. Aufl.]

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Stuttgart: Teubner, 1996

Erschienen in: Teubner-Studienbücher ; Chemie
Krischner, Harald [VerfasserIn]

Einführung in die Röntgenfeinstrukturanalyse : Lehrbuch für Physiker, Chemiker, Physikochemiker, Metallurgen, Kristallographen und Mineralogen im 2. Studienabschnitt ; mit 29 Tabellen und einem Anhang - [4., überarb. Aufl.]

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Braunschweig; Wiesbaden: Vieweg, 1990
Ehrhardt, Helmut [HerausgeberIn]

Röntgenfluoreszenzanalyse : Anwendung in Betriebslaboratorien ; mit 53 Tabellen - [2., überarb. und erw. Aufl]

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1989
Černij, Aleksand N. [VerfasserIn]

Rentgenotopografija

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Moskva: Nedra, 1981
Raaz, Franz [VerfasserIn]

Röntgenkristallographie : Einführung in die Grundlagen

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Berlin [u.a.]: de Gruyter, 1975

Erschienen in: Sammlung Göschen ; 2600
Büchner, Hermann [VerfasserIn]

Radiometrie : Theorie und Praxis röntgenologischer Messmethoden

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Berlin [u.a.]: Springer, 1963
Ott, H. [VerfasserIn] ; Herzfeld, Karl F. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Strukturbestimmung mit Röntgeninterferenzen

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Leipzig: Akad. Verl.-Ges., 1928

Erschienen in: Handbuch der Experimentalphysik ; 7,2
Paganin, David M. [VerfasserIn]

Coherent X-ray optics - [First published in paperback]

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Oxford; New York: Oxford University Press, 2013

Erschienen in: Oxford series on synchrotron radiation ; 6,2013
Teo, Boon K. [VerfasserIn]; Teo, Boon Keng [VerfasserIn]

EXAFS : basic principles and data analysis ; with 17 tables

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1986

Erschienen in: Inorganic chemistry concepts ; 9
Glatter, Otto [HerausgeberIn]; Kratky, O. [HerausgeberIn]

Small angle X-ray scattering

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London [u.a.]: Acad. Pr., 1982
Guinier, André [VerfasserIn]; Fournet, Gérard [VerfasserIn]

Small-angle scattering of x-rays

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New York: Wiley [u.a.], 1955

Erschienen in: Structure of matter series

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