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Jenkins, Ron [VerfasserIn]; Gould, Robert William [VerfasserIn]; Gedcke, Dale [VerfasserIn]

Quantitative x-ray spectrometry - [2. ed.]

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New York [u.a.]: Dekker, 1995

Erschienen in: Practical spectroscopy ; 2000
Materlik, Gerhard [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Sparks, C. J. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Fischer, K. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Resonant anomalous X-ray scattering : theory and applications

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Amsterdam [u.a.]: North-Holland, 1994
Chung, Deborah D. L. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

X-ray diffraction at elevated temperatures : a method for in situ process analysis

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New York; Weinheim [u.a.]: VCH, 1993
Cruickshank, Durward W. [HerausgeberIn]; Ewald, Paul Peter [GefeierteR]

P. P. Ewald and his dynamical theory of X-ray diffraction : a memorial volume for Paul P. Ewald, 23 January 1888 - 22 August 1985

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Oxford [u.a.]: Internat. Union of Crystallography, 1992

Erschienen in: Internationale Union für Kristallographie: IUCr monographs on crystallography ; 2
Proceedings of the combined First Pacific-International Congress on X-Ray Analytical Methods (PIXCAM) and Fortieth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis / A

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New York, NY: Plenum Pr., 1992

Erschienen in: Proceedings of the combined First Pacific-International Congress on X-Ray Analytical Methods (PIXCAM) and Fortieth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis / ed. by Charles S. Barrett ... ; A - Advances in x-ray analysis ; 35A
Proceedings of the combined First Pacific-International Congress on X-Ray Analytical Methods (PIXCAM) and Fortieth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis / B

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New York, NY: Plenum Pr., 1992

Erschienen in: Proceedings of the combined First Pacific-International Congress on X-Ray Analytical Methods (PIXCAM) and Fortieth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis / ed. by Charles S. Barrett ... ; B - Advances in x-ray analysis ; 35B
Michette, Alan G. [HerausgeberIn] ; International Symposium X-Ray Microscopy 3 1990 London

X-ray microscopy / 3, London, September 3-7, 1990 / A. G. Michette ... (eds.)

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Berlin; Heidelberg: Springer, 1992

Erschienen in: X-ray microscopy ; 3 - Springer series in optical sciences ; 67
Bennett, Harry [VerfasserIn]; Bennett, Henry [VerfasserIn]; Oliver, Graham J. [VerfasserIn]

XRF analysis of ceramics, minerals and allied materials

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Chichester [u.a.]: Wiley, 1992
Conference on Applications of X-Ray Analysis 39 1990 Steamboat Springs, Colo

Advances in x-ray analysis / 34, Proceedings of the 39. Annual Conference on Applications of X-ray Analysis, held July 30 - August 3, 1990, in Steamboat Springs, Colorado

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1991

Erschienen in: Advances in x-ray analysis ; 1991,34
Krischner, Harald [VerfasserIn]

Einführung in die Röntgenfeinstrukturanalyse : Lehrbuch für Physiker, Chemiker, Physikochemiker, Metallurgen, Kristallographen und Mineralogen im 2. Studienabschnitt ; mit 29 Tabellen und einem Anhang - [4., überarb. Aufl.]

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Braunschweig; Wiesbaden: Vieweg, 1990
Marenkov, Oleg S. [VerfasserIn]; Komjak, Nikolaj I. [VerfasserIn]; Komjak, N. I. [VerfasserIn]

Handbook of photon interaction coefficients in radioisotope excited X-ray fluorescence analysis

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New York, NY: Nova Science Publ., 1991
Agarwal, Bipin Kumar [VerfasserIn]

X-ray spectroscopy : an introduction - [2. ed.]

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1991

Erschienen in: Springer series in optical sciences ; 15.1991
Ehrhardt, Helmut [HerausgeberIn]

Röntgenfluoreszenzanalyse : Anwendung in Betriebslaboratorien ; mit 53 Tabellen - [2., überarb. und erw. Aufl]

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1989
Stout, George H. [VerfasserIn]; Jensen, Lyle H. [VerfasserIn]

X-ray structure determination : a practical guide - [2. ed.]

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New York [u.a.]: Wiley, 1989

Erschienen in: A Wiley-Interscience publication
Debertin, Klaus [VerfasserIn]; Helmer, Richard G. [VerfasserIn]

Gamma- and X-ray spectrometry with semiconductor detectors

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Amsterdam [u.a.]: North-Holland, 1988
Ehrhardt, Helmut [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Röntgenfluoreszenzanalyse : Anwendung in Betriebslaboratorien mit 53 Tabellen - [2., überarb. u. erw. Aufl]

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Leipzig: Deutscher Verlag für Grundstoffindustrie, 1988
Koningsberger, D. C. [HerausgeberIn]

X-ray absorption : principles, applications, techniques of EXAFS, SEXAFS and XANES

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New York [u.a.]: Wiley, 1988

Erschienen in: Chemical analysis ; 92
Jenkins, Ron [VerfasserIn]

X-ray fluorescence spectrometry

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New York [u.a.]: Wiley, 1988

Erschienen in: Chemical analysis ; 99
Gomes Ferreira, J. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Ferreira, J. G. [HerausgeberIn] ; Advanced Study Institute on X-Ray Spectroscopy in Atomic and Solid State Physics 1987 Vimeiro

X-ray spectroscopy in atomic and solid state physics : [proceedings of a NATO Advanced Study Institute on X-Ray Spectroscopy in Atomic and Solid State Physics, held August 30-September 12, 1987, in Vimeiro, Portugal]

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New York [u.a.]: Plenum Press, 1988

Erschienen in: NATO: NATO ASI series / B ; 187
Conference on Applications of X-Ray Analysis 35 1986 Denver, Colo

Advances in x-ray analysis / 30, [Proceedings of the 35. Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, held August 4 - 8, 1986 in Denver, Colorado]

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1987

Erschienen in: Advances in x-ray analysis ; 1987,30

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