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  1. Meyendorf, Norbert G. [HerausgeberIn]; Clingman, Dan J. [HerausgeberIn] ; Smart Structures and NDE for Industry 4.0 Veranstaltung 2018 Denver, Colo, SPIE, SPIE

    Smart Structures and NDE for Industry 4.0 : 5-6 March 2018, Denver, Colorado, United States

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2018]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 10602

  2. Gommlich, Andreas [VerfasserIn] ; Meyendorf, Norbert G. H. [AkademischeR BetreuerIn]; Gerlach, Gerald [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Holstein, Peter [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Entwicklung einer neuen Methode zur Ansteuerung von Ultraschall-Phased Arrays

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    Dresden; Dresden: Saechsische Landesbibliothek- Staats- und Universitaetsbibliothek Dresden, 2016

  3. Meyendorf, Norbert G. [HerausgeberIn]; Matikas, Theodoros E. [HerausgeberIn]; Peters, Kara J. [HerausgeberIn] ; Smart Materials and Nondestructive Evaluation for Energy Systems Veranstaltung 2016 Las Vegas, Nev, SPIE, SPIE

    Smart Materials and Nondestructive Evaluation for Energy Systems 2016 : 21-23 March 2016, Las Vegas, Nevada, United States

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2016]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 9806

  4. Wolter, Klaus-Jürgen [VerfasserIn]; Oppermann, Martin [VerfasserIn]; Heuer, Henning [VerfasserIn]; Köhler, Bernd [VerfasserIn]; Striegler, André [VerfasserIn]; Schubert, Frank [VerfasserIn]; Netzelmann, Udo [VerfasserIn]; Krüger, Peter [VerfasserIn]; Meyendorf, Norbert [VerfasserIn]

    Zerstörungsfreie Prüfverfahren für strukturintegrierte elektronische Systeme - Forderungen und Möglichkeiten

    Aufsätze
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    19.02.2008

    Erschienen in: Leibniz-Institut für Interdisziplinäre Studien: LIFIS online ; (2008) vom: 19. Feb., Seite 1-11

  5. Meyendorf, Norbert; Schreiber, Jürgen; Nebel, Dieter

    Vorwort

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    Walter de Gruyter GmbH, 2009

    Erschienen in: Materials Testing

  6. Meyendorf, Norbert; Dlubek, Gunter; Surkov, Alexander

    Positron annihilation spectroscopy to study nanoprecipitations in aluminum alloys

    Konferenzberichte
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    SPIE, 2004

    Erschienen in: Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II