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Hayat, M. A. [HerausgeberIn]

Principles and techniques of electron microscopy : biological applications - [4. ed.]

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Cambridge, UK; New York: Cambridge University Press, c 2000
Kirkland, Earl J. [VerfasserIn]

Advanced computing in electron microscopy

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New York [u.a.]: Plenum Press, 1998
Watt, Ian M. [VerfasserIn]

The principles and practice of electron microscopy - [2. ed]

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Cambridge [u.a.]: Cambridge University Press, 1997
Michel, Andrée [VerfasserIn]

Bodo von Borries

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Erlangen, 1994

Erschienen in: Pioniere der Wissenschaft bei Siemens ; (1994), Seite 135-138
Müller, Georg [VerfasserIn]; Raith, Michael [VerfasserIn]; Raith, Michael M. [VerfasserIn]

Methoden der Dünnschliffmikroskopie - [5., überarb. Aufl.]

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Köln: von Loga, 1993

Erschienen in: Clausthaler tektonische Hefte ; 1405
Goodhew, Peter J. [VerfasserIn]; Humphreys, F. John [VerfasserIn] ; Clewing, Ulrike [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Humphreys, F. J. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Elektronenmikroskopie: Grundlagen und Anwendung

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London; Hamburg [u.a.]: McGraw-Hill, 1991
Günter, John R. [HerausgeberIn]

History of electron microscopy in Switzerland

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Basel; Boston; Berlin; [Stuttgart]: Birkhäuser, 1990
Watt, Ian M. [VerfasserIn]

The principles and practice of electron microscopy - [1. paperback ed. (with amendments)]

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Cambridge [u.a.]: Cambridge Univ. Press, 1989
Joy, David C. [HerausgeberIn]

Principles of analytical electron microscopy - [2nd print.]

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New York [u.a.]: Plenum Press, 1989
Heydenreich, Johannes [VerfasserIn]

Hochauflösende Elektronenmikroskopie in der Werkstofforschung

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Berlin: Akademie-Verlag, 1983

Erschienen in: Akademie der Wissenschaften der DDR: Sitzungsberichte der Akademie der Wissenschaften der DDR / N ; 1982,19
Hawkes, Peter W. [HerausgeberIn]; Frank, Joachim [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Computer processing of electron microscope images

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1980

Erschienen in: Topics in current physics ; 13
Willison, J. H. Martin [VerfasserIn]; Rowe, Arthur J. [VerfasserIn]

Replica, shadowing and freeze-etching techniques

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Amsterdam [u.a.]: North-Holland Publ., 1980

Erschienen in: Practical methods in electron microscopy ; 800
Lewis, Peter R. [VerfasserIn]; Knight, D. P. [VerfasserIn]; Chandler, John A. [VerfasserIn]

Staining methods for sectioned material

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Amsterdam: North-Holland, 1977

Erschienen in: Practical methods in electron microscopy ; 5
Siegel, Benjamin M. [HerausgeberIn]; Beaman, Donald Robert [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Electron Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society

Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis

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New York, NY [u.a.]: Wiley & Sons, [1975]

Erschienen in: A Wiley biomedical-health publication
Schimmel, Gerhard [VerfasserIn]

Elektronenmikroskopische Methodik

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Berlin; Heidelberg; New York: Springer, 1969
Beyer, Hermann [VerfasserIn]

Theorie und Praxis des Phasenkontrastverfahrens : mit 1 Tab.

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Frankfurt a.M.: Akadem. Verl.-Ges., 1965
Müller, Heinz [VerfasserIn]

Präparation von technisch-physikalischen Objekten für die elektronenmikroskopische Untersuchung : mit 13 Tab.

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Leipzig: Geest & Portig, 1962
Reimer, Ludwig [VerfasserIn]

Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Präparationsmethoden

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Berlin [u.a.]: Springer, 1959
Mahl, Hans [VerfasserIn]; Gölz, Erich [VerfasserIn]

Elektronen-Mikroskopie

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Leipzig: Bibliogr. Inst., 1951

Erschienen in: Die Kleinen Studienbücher ; 5800
Ramsauer, Carl [HerausgeberIn] ; Allgemeine Elektricitäts-Gesellschaft Forschungs-Institut

Elektronenmikroskopie : Bericht über Arbeiten des AEG Forschungs-Instituts 1930 bis 1941 - [2., verm. Aufl. des Selbstberichtes Zehn Jahre Elektronenmikroskopie]

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Berlin: Springer, 1942

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