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Jha, Niraj K. [VerfasserIn]; Gupta, Sandeep [VerfasserIn]

Testing of digital systems

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Cambridge: Cambridge University Press, 2003
DeMassa, Thomas A. [VerfasserIn] ; Ciccone, Zack [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Digital integrated circuits

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New York [u.a.]: Wiley, 1996
Vahid, Frank [VerfasserIn]; Lysecky, Roman [VerfasserIn]

VHDL for digital design

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Hoboken, NJ [u.a.]: Wiley, 2007
Reichardt, Jürgen [VerfasserIn]; Schwarz, Bernd [VerfasserIn]

VHDL-Synthese : Entwurf digitaler Schaltungen und Systeme - [3., bearb. Aufl.]

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München; Wien: Oldenbourg, 2003
Chang, Kai-hui [VerfasserIn]; Markov, Igor L. [VerfasserIn]; Bertacco, Valeria [VerfasserIn]

Functional design errors in digital circuits : diagnosis, correction and repair

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[Dordrecht [u.a.]]: Springer, 2009

Erschienen in: Lecture notes in electrical engineering ; 3200
Ashenden, Peter J. [VerfasserIn]

The student's guide to VHDL - [Second edition]

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Amsterdam; Heidelberg: Elsevier, Morgan Kaufmann Publishers, [2008]
Navabi, Zainalabedin [VerfasserIn]

VHDL : modular design and synthesis of cores and systems - [3rd ed.]

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New York, NY [u.a.]: McGraw-Hill, 2007
Ashenden, Peter J. [VerfasserIn]

The designer's guide to VHDL - [2. ed.]

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San Francisco, Calif. [u.a.]: Morgan Kaufmann, 2002

Erschienen in: The Morgan Kaufmann series in systems on silicon
Salcic, Zoran [VerfasserIn]

VHDL and FPLDs in digital systems design, prototyping, and customization

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Boston [u.a.]: Kluwer Academic Publishers, c1998
Roth, Charles H. [VerfasserIn]

Digital systems design using VHDL

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Boston, Mass. [u.a.]: PWS Publ. Comp., 1998
Wiemann, Alan [VerfasserIn]

Standardized functional verification

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New York, NY: Springer, 2008
Lala, Parag K. [VerfasserIn]

Digital circuit testing and testability

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San Diego [u.a.]: Academic Press, c1997
Ashenden, Peter J. [VerfasserIn]

The designer's guide to VHDL - [Third edition]

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Amsterdam; Boston; Heidelberg; London; New York; Oxford; Paris; San Diego; San Francisco; Singapore; Sydney; Tokyo: Elsevier, Morgan Kaufmann Publishers, [2008]

Erschienen in: The Morgan Kaufmann series in systems on silicon
Rabaey, Jan [VerfasserIn] ; Rabaey, Jan M. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Low power design essentials

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New York, NY: Springer, 2009

Erschienen in: Series on integrated circuits and systems
Wojtkowiak, Hans [VerfasserIn]

Test und Testbarkeit digitaler Schaltungen ; mit 43 Tabellen und 18 Aufgaben mit Lösungen

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Stuttgart: B.G. Teubner, 1988

Erschienen in: Leitfäden und Monographien der Informatik
Norris, Bryan [HerausgeberIn]

Digital integrated circuits and operational-amplifier and optoelectronic circuit design

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New York [u.a.]: McGraw-Hill, 1976

Erschienen in: Texas Instruments electronics series
Kühn, Eberhard [VerfasserIn]

Handbuch TTL- und CMOS-Schaltungen - [4., stark bearb. Aufl.]

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Heidelberg: Hüthig, 1993
Millman, Jacob [VerfasserIn] ; Halkias, Christos C. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Integrated electronics : analog and digital circuits and systems

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New York [u.a.]: McGraw-Hill, 1972

Erschienen in: McGraw-Hill Electrical and electronic Engineering Series
Kang, Sung-Mo [VerfasserIn]; Leblebici, Yusuf [VerfasserIn] ; Kang, Sung-Mo [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

CMOS digital integrated circuits : analysis and design

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New York, NY [u.a.]: McGraw-Hill, c1996
Butler, Kenneth M. [VerfasserIn]; Mercer, Melvin R. [VerfasserIn]

Assessing fault model and test quality

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Boston [u.a.]: Kluwer Acad. Publ., 1992

Erschienen in: Kluwer international series in engineering and computer science ; 157

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