Pfeifer, Tilo
[HerausgeberIn]
;
International Symposium on Laser Metrology for Precision Measurement and Inspection in Industry 3 1994 Heidelberg,
International Measurement Confederation,
VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik
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Karlsruhe: KIT Scientific Publishing, 2022
Erschienen in:Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung ; 20
Matthias, Steffen
[VerfasserIn];
Kästner, Markus
[VerfasserIn];
Reithmeier, Eduard
[VerfasserIn];
Lehmann, Peter
[VerfasserIn];
Osten, Wolfgang
[VerfasserIn];
Albertazzi Gonçalves, Armando, Jr.
[VerfasserIn]
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Bellingham, Wash. : SPIE, 2015
Erschienen in:Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IX : 22-25 June 2015, Munich, Germany ; Proceedings of SPIE 9525 (2015)
Yang, Zheng
[VerfasserIn]
;
Häusler, Gerd
[AkademischeR BetreuerIn];
Häusler, Gerd
[Sonstige Person, Familie und Körperschaft];
Tiziani, Hans
[Sonstige Person, Familie und Körperschaft]
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Bellingham, Wash. : SPIE, 2016
Erschienen in:Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications IV : 12-14 October 2016, Beijing, China ; Proceedings of SPIE 10023 (2016)
Schlobohm, Jochen
[VerfasserIn];
Li, Yinan
[VerfasserIn];
Pösch, Andreas
[VerfasserIn];
Langmann, Benjamin
[VerfasserIn];
Kästner, Markus
[VerfasserIn];
Reithmeier, Eduard
[VerfasserIn]
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Amsterdam : Elsevier, 2014
Erschienen in:Proceedings of the 3rd International Conference in Through-life Engineering Services, 4-5 November 2013 ; Procedia CIRP 22 (2014)
Rudolph, Marco
[VerfasserIn]
;
Rosenhahn, Bodo
[MitwirkendeR];
Wandt, Bastian
[MitwirkendeR];
Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
[MitwirkendeR]
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KIT Scientific Publishing, Karlsruhe, 2022-01-01
Quentin, Lorenz
[VerfasserIn];
Beermann, Rüdiger
[VerfasserIn];
Pösch, Andreas
[VerfasserIn];
Reithmeier, Eduard
[VerfasserIn];
Kästner, Markus
[VerfasserIn];
Lehmann, Peter
[VerfasserIn];
Osten, Wolfgang
[VerfasserIn];
Albertazzi Gonçalves, Armando
[VerfasserIn]
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Bellingham, Wash. : SPIE, 2017
Erschienen in:Optical Measurement Systems for Industrial Inspection X : 26-29 June 2017, Munich, Germany ; Proceedings of SPIE 10329 (2017)
Matthias, Steffen
[VerfasserIn];
Kästner, Markus
[VerfasserIn];
Reithmeier, Eduard
[VerfasserIn];
Berghmans, Francis
[VerfasserIn];
Mignani, Anna G.
[VerfasserIn]
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Bellingham, Wash. : SPIE, 2016
Erschienen in:Optical Sensing and Detection IV : 3-7 April 2016, Brussels, Belgium ; Proceedings of SPIE 9899 (2016)
Beermann, Rüdiger
[VerfasserIn];
Quentin, Lorenz
[VerfasserIn];
Pösch, Andreas
[VerfasserIn];
Reithmeier, Eduard
[VerfasserIn];
Kästner, Markus
[VerfasserIn]