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  1. Hueting, Raymond J. E.; Heringa, Anco; Boksteen, Boni K.; Dutta, Satadal; Ferrara, Alessandro; Agarwal, Vishal; Annema, Anne Johan

    An Improved Analytical Model for Carrier Multiplication Near Breakdown in Diodes

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    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2017

    Erschienen in: IEEE Transactions on Electron Devices