%0 Book
%T InduLIT Induktiv angeregte Lock-in-Thermografie zur zerstörungsfreien Funktionsprüfung in der Elektronik
%A Bohm, Johannes
%7 1. Aufl.
%I Detert
%@ 9783934142695
%K Hochschulschrift
%K Elektroniktechnologie
%K Verbindungstechnik
%K Funktionstest
%K Gedruckte Schaltung
%K Durchkontaktieren
%K Rissbildung
%K Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung
%K Thermografie
%K Spulensystem
%K Anregung
%D 2015
%C Detert
%C Templin
%U http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
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