%0 Book
%T Generation von Oxidladungen und Phasengrenzzuständen im MOS-System durch Tunnelinjektion und ionisierende Bestrahlung
%A Knoll, Meinhard
%K Hochschulschrift
%K MOS-Schaltung
%K MOS
%K Strahlenbelastung
%D 1983
%U http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
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