%0
Generic
%T
Reliability Study of 130nm CMOS technology submitted to hot carrier injections ; Etude de la fiabilité porteurs chauds et des performances des technologies CMOS 0.13 μm - 2nm
%A Di Gilio, Thierry
%I HAL CCSD
%D 2006
%C HAL CCSD
%C [Erscheinungsort nicht ermittelbar]
%U http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2