%0 Book
%T Sehen heißt wissen das Rasterelektronenmikroskop im Fehleranalyselabor
%A Eckert, Richard
%7 1. Aufl.
%I Kurz
%I : Kurz
%@ 3893010815
%K Scanning electron microscopy
%K Rasterelektronenmikroskop
%D 1998
%D , 1998
%X Literaturangaben
%C Kurz
%C : Kurz
%C Stuttgart
%C ; Stuttgart
%U http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
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