%0 Book
%T Entwicklung eines Hochfrequenz-Rasterkraftmikroskop-Testsystems für die Untersuchung von Hochfrequenzbauelementen und -schaltungen
%A Leyk, Andreas
%7 Als Ms. gedr.
%I VDI-Verl.
%@ 3183694085
%K Hochschulschrift
%K Elektronisches Bauelement
%K Hochfrequenztechnik
%K Testen
%K Rasterkraftmikroskopie
%K Hochfrequenzschaltung
%D 1998
%C VDI-Verl.
%C Düsseldorf
%U http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
Download citation